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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
電子芯片產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱
用途、特點(diǎn)
一、用途
冷熱沖擊試驗(yàn)箱又名熱沖擊試驗(yàn)箱、冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱；用于電子電子器零組件、自動化零部件、通迅組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片Ic、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化測試其材料對高、低溫反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的Ic到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具。
二、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
1. 產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究。
2. 設(shè)備分為高溫室、低溫室、測試室三部分，采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測物*靜止，冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。
3. 采用觸控式液晶（LCD）顯示人機(jī)介面控制器，計(jì)測裝置，操作簡單，學(xué)習(xí)容易，穩(wěn)定可靠，中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
4. 具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定，沖擊時(shí)間999小時(shí)59zui大分鐘，循環(huán)周期1~999次可設(shè)定，可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動運(yùn)轉(zhuǎn)、停止工作運(yùn)行。
5. 箱體左側(cè)具有50mm之測試孔1個(gè)，可供外加電源負(fù)載配線測試部件。
6. 可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制，溫度控制精度高。
7. *的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角；完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長期可靠性可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動）除霜。
8. 出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。
宏展的試驗(yàn)箱設(shè)備可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
電子芯片產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱
溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
電子芯片產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
標(biāo)稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
試驗(yàn)方式 | 氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
性能 | 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
試驗(yàn)室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
溫度范圍 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
溫度恢復(fù)時(shí)間※2 | 5分鐘以內(nèi) | |||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
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| 主電源開關(guān)維護(hù) | |
維護(hù)周期 | 1季度/1次 | |
適合操作人員 | 設(shè)備使用操作者 | |
維護(hù)方法： 1合上機(jī)器后面的總電源開關(guān)（即漏電保護(hù)器）至“ON”的位置。
2在“ON”的狀態(tài)下，用手輕按下開關(guān)上的“T”按鈕；如果漏電開關(guān)的扳手自動落下則為正常。
3扳手落下時(shí)，漏電保護(hù)開關(guān)處于“ON”和“OFF”之間，重新上電時(shí)則需先將扳手往下扳，然后再扳至“ON”位置 | ||
電子芯片產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高低溫沖擊試驗(yàn)箱溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
電子芯片產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱