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[供應(yīng)]芯片冷熱沖擊老化測試-電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備
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  • 芯片冷熱沖擊老化測試-電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備
貨物所在地:
重慶重慶市
產(chǎn)地:
廣東東莞長城工業(yè)園
更新時間:
2023-05-28 21:00:08
有效期:
2023年5月28日 -- 2023年11月28日
已獲點擊:
129
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產(chǎn)品簡介

電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗,也是篩選電子元器件初期故障的助手。高低溫試驗箱和冷熱沖擊試驗箱也是我們公司重點研發(fā)的設(shè)備。

詳細介紹

電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備
設(shè)備用途  

適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗,也是篩選電子元器件初期故障的助手。  

高低溫沖擊測試箱(溫度沖擊試驗箱)是我司重點研發(fā)設(shè)備,國家產(chǎn)品,電子行業(yè)里我們客戶繁多,也希望得到您的認可。

溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設(shè)置短路保護,確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~*自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;


 

電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備

 

設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui??;
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求;

電子芯片冷熱沖擊  老化測試設(shè)備

溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設(shè)置短路保護,確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~*自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;


 

電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備

設(shè)備執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)    
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法;     
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗方法;     
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗;     
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;     
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;     
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。     
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式      
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化      
10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則      
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化      
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則    
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估 

電子芯片冷熱沖擊  老化測試設(shè)備

 

 

安裝條件

使用條件

 

1.     安裝場地

設(shè)備周圍留有適當(dāng)空間:設(shè)備四個面至少流出0.8米以上用于維修、保養(yǎng)過道。

地面平整、通風(fēng)良好

設(shè)備周圍無強烈振動

設(shè)備周圍無強電磁場影響

設(shè)備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵

2.     環(huán)境條件

溫度:5℃35

相對濕度:40%RH90%RH

氣壓:86kPa106kPa

12.3. 氣源(壓縮空氣)

 

壓力:(57kg/cm2

連接管口徑:φ8mm

流量:0.1m3/min

12.4. 供電條件

電源

 

 

AC380V   三相四線保護地線

電壓允許波動范圍:AC(380±38)V

頻率允許波動范圍:(50±0.5)Hz

保護地線接地電阻小于4Ω;TN-S方式供電或TT方式供電

要求用戶在安裝現(xiàn)場為設(shè)備配置相應(yīng)容量的空氣或動力開關(guān),并且此開關(guān)必須是獨立供本設(shè)備使用

zui大電流

32A

電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備

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