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詳細介紹
EIGER2 R 250K雙能粉末衍射儀探測器
二維雙能陣列光子計數衍射儀X射線探測器
1、產品特點：
在DECTRIS公司所有應用于實驗室的探測器產品系列中，EIGER2 R系列探測器結合了所有混合光子計數探測器的*技術。 它所具有的雙能量識別有助于在微弱信號和長時間曝光的條件下進行背景抑制和提高信噪比。其*的計數率性能可以準確地測量*強度的X射線。利用該系列探測器的巨大動態(tài)范圍，可以在零死時間同步讀/寫的狀態(tài)下進行長時間曝光。由于具備可選擇的真空兼容性，從而使空氣和窗口所產生的吸收和散射小化。小尺寸像素與X射線直接探測相結合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以進行精細地測量樣品并具有寬泛的倒易空間。可以在三種不同的型號中進行選擇以滿足您的需求。
2、核心優(yōu)勢：
– 雙能識別有助于抑制低能量和高能量的背景
– 由于零背景噪音和同時讀寫，所以具有很高的動態(tài)范圍
– 小尺寸像素和*的點擴散函數有助于獲得高的空間分辨率
– 可定制在真空環(huán)境下使用；
– 免維護
3、應用領域：
- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；
- 大分子晶體學（MX）；
- 化學結晶學；
- 單晶衍射（SCD）；
- 粉末衍射（PD）；
- X射線成像；
- 表面衍射；
- 漫散射。
4、技術參數：
EIGER2 R | 250K | 500K | 1M | 4M |
探測器模塊數量 | 1 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 38.4 x 38.4 | 77.2 x 38.6 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | |||
點擴散函數 | 1 pixel | |||
能量閾值 | 2 | |||
閾值范圍（KeV） | 3.5-30 | |||
大計數率（cps/mm2） | 6.9×108 | |||
計數器深度（bit/threshold） | 2×16 | |||
大幀速率 [Hz] | 50 | 50 | 100 | 20 |
采集模式 | 同時讀/寫，死區(qū)時間為零 | |||
圖像位深度（bit） | 32 | |||
可選真空兼容 | Yes | |||
冷卻方式 | 風冷 | 風冷 | 水冷 | 水冷 |
尺寸（WHD）[mm3] | 100 x 140 x 93 | 100 x 140 x 93 | 114 x 133 x 240 | 235 x 235 x 372 |
重量 [kg] | 1.8 | 1.8 | 4.7 | 15 |
二維雙能陣列光子計數衍射儀X射線探測器
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