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| GDS/KDY-2型二探針電阻率測試儀 型號:GDS/KDY-2（測硅） |
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| 兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。 整套儀器有如下特點 1.配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數(shù)字表（以之幾的精度）適時監(jiān)測過程中的電流變化，使操作方便，測量。 數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000兆歐 基本誤差±（0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度） 2.可測電阻率范圍：0.005—50000Ω·cm。 3.測量電流由高度穩(wěn)定（之幾精度）的恒流源提供，不受氣候條件的影響。 電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA 4.儀器采用觸點電阻低（＜5mΩ）、使用壽命長的轉換開頭及繼電器（＞10），在緣電阻、電流容量方面留有大的系數(shù)，提高了測試儀的性和使用壽命。 5.可加配微處理機及打印機，實現(xiàn)自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。 6.可加配電腦，實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。 |
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