Micro Pioneer XRF-2000R
X光鍍層測厚儀及ROHS原素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，其物點為：高分辨率，固態(tài)探測器； 分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用； 測量多層鍍層或錫鉛成分分析；電鍍?nèi)芤悍治?；定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；自動過濾器，多準直儀（五個準直器，從0.1mm-3.0mm）和全自動XYZ移動樣品臺；性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
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