X射線金屬鍍層測厚儀韓國XRF-2000L型

備注：XRF-2000型測厚儀現(xiàn)已全部升級為XRF-2020系列

XRF-2020測厚儀：快速無損測量電鍍層膜厚儀

儀器產地：韓國

品牌：Micropioneer

型號：XRF-2020H型，XRF-2020L型

規(guī)格型號如下圖所示

儀器規(guī)格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

Microp XRF-2020測厚儀(韓國微先鋒）

快速無損測量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

測量原理：

物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

測量方法：X熒光法

特征：快速無損檢測

儀器特長：全自動臺，自動雷射對焦！測量準確