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詳細(xì)摘要：基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測試儀是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗（tanδ）和介電常數(shù)(ε)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等進(jìn)行測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測試儀符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q。 DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz,測試信號。 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。 Q值量程自動/手動量程控制。 數(shù)字化Q值預(yù)置，能提高批量測試的可靠性和速度。 產(chǎn)品型號：所在地： 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗（tanδ）和介電常數(shù)(ε)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等進(jìn)行測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。 產(chǎn)品型號：所在地：介電常數(shù)測試儀 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗（tanδ）和介電常數(shù)(ε)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等進(jìn)行測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介質(zhì)損耗角正切及介電常數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法 產(chǎn)品型號：GDAT-C所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機(jī)控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關(guān)注量程和換算，*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測量的理想工具。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介質(zhì)損耗測量儀空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：本臺儀器可測試固體材料、液體材料，高頻介電常數(shù)，低頻介電常數(shù)，工頻介電常數(shù)，如果您想了解更多請咨詢。謝謝 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的 物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗 和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法， 并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產(chǎn)品型號：gdat-c所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司主營產(chǎn)品：絕緣強(qiáng)度耐電壓擊穿試驗(yàn)儀-高壓電橋法介電常數(shù)測試儀-高電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
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