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[供應]GDAT-C-介電常數/介質損耗測試儀
介電常數介質損耗試驗儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
一、介電常數介質損耗試驗儀概述
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。
BD916介質損耗測試裝置技術特性
平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
主要技術特性
Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差 ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
主電容調節(jié)范圍 18 ~ 220pF
主電容調節(jié)準確度 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個字
搭配了全新的介質損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述
BD916介質損耗測試裝置與本公司生產的各款高頻Q表配套,可用于測量絕緣材料的介電常數和介質損耗系數(損耗角正切值)。
BD916介質損耗測試裝置是BD916914的換代產品,它采用了數顯微測量裝置,因而讀數方便,數據精確。
測試裝置由一個LCD數字顯示微測量裝置和一對間距可調的平板電容器極片組成。
平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。
BD916介質損耗測試裝置須配用Q表作為調諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化,測得絕緣材料的損耗角正切值。
從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。
北廣公司其它絕緣材料檢測儀器:
BDJC-0-100KV 介電擊穿試驗儀
BDJC系列絕緣材料工頻率介電擊穿試驗儀
BDJC系列電壓介電強度試驗儀器
BDJC系列 電壓擊穿試驗儀
BDJC系列絕緣漆漆膜擊穿強度試驗儀
BDJC電容器紙工頻電壓擊穿試驗儀
EST-121 體積表面電阻率測定儀
GDAT-A介質損耗測試儀/介電常數測試儀
GDAT-C新型介電常數介質損耗測試儀
BDH 耐漏電起痕試驗儀
BDH-B耐電弧試驗儀
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