空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（小于 10 mil）量測(cè)值偏低,。

詳細(xì)介紹

三.儀器技術(shù)指標(biāo)：
☆Q值測(cè)量：
a．Q值測(cè)量范圍：2～1023。 b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c．標(biāo)稱誤差
頻率范圍：20kHz～10MHz；固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍：10MHz～60MHz；固有誤差：≤6％±滿度值的2％；工作誤差：≤8％±滿度值的2％。
☆電感測(cè)量：
a．測(cè)量范圍：14.5nH~8.14H。
b．分檔：分七個(gè)量程。
0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，
0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。
☆電容測(cè)量：
a．測(cè)量范圍：1～460pF（460pF以上的電容測(cè)量見使用規(guī)則）；
b．電容量調(diào)節(jié)范圍
主調(diào)電容器：30～500pF；準(zhǔn) 確度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；
注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用規(guī)則
☆振蕩頻率：
a．振蕩頻率范圍：10kHz～50MHz；
b．頻率分段（虛擬）
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
c．頻率誤差：3×10-5±1個(gè)字。
☆Q合格指示預(yù)置功能，預(yù)置范圍：5～1000。
☆儀器正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃； b．相對(duì)濕度：<80％； c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
☆其他
a．消耗功率：約25W； b．凈重：約7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
☆ Q合格指示預(yù)置功能
預(yù)置范圍：5～1000。

一.主要特點(diǎn)：
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（小于 10 mil）量測(cè)值偏低,。

二.主要技術(shù)特性：
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

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