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電鍍化學(xué)鎳，鎳層鍍層測厚儀是天瑞儀器價(jià)格優(yōu)的鍍層測厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)及時(shí)。

鍍錫測厚儀以其快速、無損、現(xiàn)場測量等優(yōu)點(diǎn)，已在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用。

鍍層測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光測厚儀經(jīng)驗(yàn)，門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層 測厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測。

天瑞鍍層檢測儀A主要用于檢測金屬電鍍層厚度（如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……）；在企業(yè)品質(zhì)檢測、來料管控方面，得到廣泛的應(yīng)用。

天瑞x熒光測厚儀是款無損檢測儀器，可以快速的測試產(chǎn)品鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）厚度，基本沒有什么耗材，維護(hù)成本比較低。

Thick600實(shí)惠型鍍層測厚儀X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些...

鍍金鎳測厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

X射線鍍層厚度分析儀是款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，專門用于鍍層厚度檢測；其核心部件采用美進(jìn)口，軟件算法采用美EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)...

天瑞電鍍層厚度檢測儀是天瑞儀器集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是款功能強(qiáng)大的儀器，...

Thick800A臺(tái)式膜厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是款功能強(qiáng)大的儀...

Thick800A 鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是款功能強(qiáng)大的...

x射線鍍層測厚儀廠家鍍層厚度：般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%。

ROHS分析儀體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到極大提高，了核心部件的運(yùn)行安。采用美新型的Si-pin探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析且維護(hù)成本低。

廣東天瑞ROHS檢測儀待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

廠家推薦X光ROHS檢測儀可滿足各種形狀樣品的測試需求；準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足不同樣品材質(zhì)和測試點(diǎn)的檢測；移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平...

ROHS環(huán)保檢測儀光路射線防護(hù)系統(tǒng)配合三重安防護(hù)設(shè)計(jì)，同時(shí)采用軟硬件雙重安連鎖，確保輻射安性能。

小家電ROHS檢測儀 EDX系列針對(duì)RoHS測試采用業(yè)化設(shè)計(jì)，其硬件配置更有利于有害金屬物質(zhì)的測量，同時(shí)儀器的維護(hù)成本大大提高。同時(shí)，采用國內(nèi)唯的用有害物質(zhì)測試...

便攜式X光分析檢測儀是款適合于野外工作的X熒光光譜儀，能夠方便的攜帶出去，到野外工作，主要應(yīng)用于礦產(chǎn)等行業(yè)。

Rohs分析儀_天瑞EDX1800B分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散...

天瑞儀器電子電器ROHS檢測儀EDX1800B采用分析儀器行業(yè)的極速探測器技術(shù)（SDD）可將測試時(shí)間降低到1秒。