高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要用來(lái)測(cè)試材料廣泛用于如：航天航空、科學(xué)研究、金屬、連接器、光電光纖、LED模組、LCD、電路板、航天航空、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
　　1、試驗(yàn)?zāi)康模捍_定測(cè)試產(chǎn)品在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘯r(shí)的適應(yīng)性及被破壞性。
　　2、試驗(yàn)條件：高溫箱：RT～150℃，低溫箱：RT～-40℃ RT～-55℃ RT～-65℃，試驗(yàn)溫度保持時(shí)間：1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù)：針對(duì)各個(gè)不同行業(yè)不同廠家所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣，按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法測(cè)試。
　　3、恢復(fù)：測(cè)試產(chǎn)品從冷熱沖擊箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
　　4、高低溫沖擊試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
　　GB10592、GJB150.3、GJB150.4、GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GJB150.9-1986、GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）等標(biāo)準(zhǔn)。
　　5、高低溫沖擊試驗(yàn)箱要求：
　　a.采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn),以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周?chē)諝鉁囟燃眲“l(fā)生變化的環(huán)境溫度。
　　b.高溫區(qū)的要求,應(yīng)符合GJB150.3-86《jun用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
　　c.低溫區(qū)的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《jun用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
　　d.提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分,應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
　　e.試驗(yàn)箱的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過(guò)試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。
　    低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間≤15s。
       溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min。

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