電路板高低溫老化箱是科文專業(yè)為電路板行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)的一款高低溫試驗(yàn)箱。用于測(cè)試電路板，線路板，PCB板，F(xiàn)PC板在通電使用時(shí)老化測(cè)試。測(cè)試其在高溫、低溫、高低溫循環(huán)、高低溫恒定等環(huán)境溫度下使用時(shí)是否有元器件老化或損壞。

適用于：電路板、線路板、PCB板、鋁基板、高頻板、PCB、超薄線路板、超薄電路板、印刷電路板、LED、LCD、IC、LED光電、LCD液晶屏、LED照明、LED顯示器、LCD模組、LED模組、電器、電子、電工、電池、電源、數(shù)碼產(chǎn)品、塑膠、塑料、橡膠、化工、涂料、五金、建材、軍工、汽車等產(chǎn)品及零部件。

電路板高低溫老化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

1、產(chǎn)品型號(hào)：KW-GD-80/KW-GD-150/KW-GD-225/KW-GD-408/KW-GD-800/KW-GD-1000

2、容積分別：80L、150L、225L、408L、800L、1000L

3、溫度范圍：Z：0℃～150℃，T：-20℃～150℃，F(xiàn)：-40℃～150℃，S：-70℃～150℃ 

4、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

5、溫度均勻度：≤±2℃

6、濕度波動(dòng)：±2.5%R.H

7、升溫速率: 1.0～3.0℃/min 

8、降溫速率: 1.0～1.3℃/min

電路板高低溫老化箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GBT5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

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是東莞市科文試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)為電路板行業(yè)研發(fā)的測(cè)試設(shè)備之一，科文多年來專業(yè)重視電路板行業(yè)的用戶所開發(fā)的產(chǎn)品其中還有電路板高低溫老化試驗(yàn)箱、PCB電路板恒溫恒濕試驗(yàn)箱、PCB電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱、PCB電路板高溫老化試驗(yàn)箱、線路板高低溫試驗(yàn)箱、線路板高低溫濕熱試驗(yàn)箱、PCB電路板紫外線老化試驗(yàn)箱、電路板高溫老化房等電路板行業(yè)所用的可靠性試驗(yàn)設(shè)備。