上海英帥機(jī)電設(shè)備工程有限公司代理銷售梅特勒產(chǎn)品

梅特勒現(xiàn)場(chǎng)活動(dòng)技術(shù)交流會(huì)中對(duì).leTrack和.leView的培訓(xùn)和熟悉將確保所有用戶都能夠使用工具，并立即為過程開發(fā)活動(dòng)帶來價(jià)值。一個(gè)*的過程內(nèi)粒子表征專家將指導(dǎo)多個(gè)用戶通過課堂，以及動(dòng)手培訓(xùn)，以便為科學(xué)家獲得、分析和報(bào)告支持他們研究的高質(zhì)量信息做準(zhǔn)備。

在梅特勒現(xiàn)場(chǎng)活動(dòng)技術(shù)交流會(huì)培訓(xùn)課程包括：

用戶培訓(xùn)
粒子科學(xué)
FBRM測(cè)量方法
獲取高質(zhì)量的粒子軌道數(shù)據(jù)
使用iC FBRM軟件
探針的護(hù)理和校準(zhǔn)
常見粒子軌道問題
完成專項(xiàng)訓(xùn)練證書介紹

.leView用戶培訓(xùn)
粒子科學(xué)
實(shí)時(shí)顯微鏡介紹
相對(duì)后向散射(RBI)測(cè)量方法
獲取.leView數(shù)據(jù)
使用iC PVM軟件
探針的護(hù)理和校準(zhǔn)
常見粒子視圖問題
完成.leView培訓(xùn)證書介紹

梅特勒現(xiàn)場(chǎng)活動(dòng)技術(shù)交流會(huì)上等數(shù)據(jù)分析研討會(huì)：粒子跟蹤和粒子視圖
將數(shù)據(jù)與過程條件相關(guān)聯(lián)
集成來自iControl、iC IR、iC FBRM和iC PVM的數(shù)據(jù)
常見顆粒機(jī)理的識(shí)別
比較多個(gè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)
將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為過程理解
基于新信息的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)

應(yīng)用培訓(xùn)：結(jié)晶
結(jié)晶基本原理
結(jié)晶設(shè)計(jì)
種子在結(jié)晶中的作用
結(jié)晶放大
工藝分析技術(shù)與結(jié)晶