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無錫市君達儀器有限公司
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MINITEST 3100EPK統(tǒng)計型高精度涂鍍層測厚儀
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- MINITEST 3100 產(chǎn)品型號
- ElektroPhysik/德國EPK 品牌
- 其他 廠商性質(zhì)
- 無錫市 所在地
訪問次數(shù)：1461更新時間：2025-02-15 18:53:26
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
MINITEST 3100 EPK統(tǒng)計型高精度涂鍍層測厚儀
MINITEST 3100 EPK統(tǒng)計型涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：
• 鋼鐵基體上的非磁性覆層
• 有色金屬上的絕緣覆層
• 絕緣基體上的有色金屬覆層
MINITEST 3100 EPK統(tǒng)計型涂鍍層測厚儀特點：
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準
MINITEST 3100 EPK統(tǒng)計型涂鍍層測厚儀功能
MINITEST3100存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 10
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，并可設(shè)寬容度極限值) 10可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) 500
數(shù)據(jù)總量 10000
MINITEST3100統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar √
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar √
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 √
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 √
其他功能
透過涂層進行校準(CTC) √
在粗糙表面上作平均零校準 √
利用計算機進行基礎(chǔ)校準 √
補償一個常數(shù)(Offset) √
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 √
保護并鎖定校準設(shè)置 √
更換電池是存儲數(shù)值 √
設(shè)置極限值 √
公英制轉(zhuǎn)換 √
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 √
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) √
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 √
組內(nèi)單值延遲顯示 √
連續(xù)測量模式中顯示zui小值 √
MINITEST 3100 EPK統(tǒng)計型涂鍍層測厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率 | zui小測量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm | |
電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
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