X射線無損探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無損檢測方法。
X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm。
X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響，可穿透物質(zhì)，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光。
當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。
X射線無損探傷的實質(zhì)是根據(jù)被檢驗工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件后強度差異，使感光材料(膠片)上獲得缺陷投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過暗室處理后獲得缺陷影像，再對照標(biāo)準(zhǔn)評定工件內(nèi)部缺陷的性質(zhì)和底片級別。
X射線無損探傷清潔方法和注意：
1、請確保已關(guān)閉儀器并且已斷開與電源線的連接。斷開與所有的電纜盒接頭的連接并確保超聲波探傷儀所有的外接端口都已用橡膠保護(hù)蓋蓋緊。
2、對于難以去除的污垢，超聲波探傷儀維修需用一塊濕布蘸取柔性肥皂水進(jìn)行清潔。切勿使用粗面的清潔用具或強力去污溶劑以免損壞機(jī)殼表層。
3、請確保所有可開啟的艙門都已關(guān)閉。蓋上網(wǎng)絡(luò)連接接口上的蓋子。請確保已正確地關(guān)閉電池艙蓋。
4、要恢復(fù)儀器外殼的原有光澤用一塊軟布擦拭機(jī)殼即可。
5、取下接口保護(hù)蓋后請確保各個接口處于干燥狀態(tài)才能連入電纜。如果接口不干請用干燥的軟布擦干或者讓其自然干透。
6、屏幕清潔。切勿使用粗面的清潔用具或強力去污溶劑清潔超聲波探傷儀的屏幕。請用一塊濕布蘸取可蒸發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)玻璃清洗液擦拭屏幕。如有需要用軟毛刷刷去金屬探傷儀殘留的紙屑。切勿將液體直接噴灑在接口周邊。液體可能會漏進(jìn)縫中或從外殼流進(jìn)內(nèi)部使電路受損。
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