關(guān)鍵詞：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀；美析儀器：ICP-6800

等離子體發(fā)射光譜分析法是光譜分析技術(shù)中，以等離子體炬作為激發(fā)光源的一種發(fā)射光譜分析技術(shù)。其中以電感耦合等離子體（inductively coupled plasma，簡(jiǎn)稱(chēng)為ICP）作為激發(fā)光源的發(fā)射光譜分析方法（簡(jiǎn)稱(chēng)為ICP-OES），是光譜分析中研究為深入和應(yīng)用為廣泛、有效的分析技術(shù)之一。

在此，美析儀器列出了電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）的常見(jiàn)問(wèn)題，并給出詳細(xì)解答，讓大家對(duì)電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）有更深的了解。

問(wèn)答一：

Q:ICP-OES的分析原理是什么？

A: 電感耦合等離子體焰矩溫度可達(dá)6000~8000K，當(dāng)將試樣由進(jìn)樣器引入霧化器，并被氬載氣帶入焰矩時(shí)，則試樣中組分被原子化、電離、激發(fā)，以光的形式發(fā)射出能量。不同元素的原子在激發(fā)或電離時(shí)，發(fā)射不同波長(zhǎng)的特征光譜，故根據(jù)特征光的波長(zhǎng)可進(jìn)行定性分析；元素的含量不同時(shí)，發(fā)射特征光的強(qiáng)弱也不同，據(jù)此可進(jìn)行定量分析，其定量關(guān)系可用下式表示：

I=aC^b

式中：I—發(fā)射特征譜線的強(qiáng)度；

C—被測(cè)元素的濃度；

a—與試樣組成、形態(tài)及測(cè)定條件等有關(guān)的系數(shù)；

b—自吸系數(shù)，b≤1

問(wèn)答二：

Q:ICP-OES的應(yīng)用領(lǐng)域是？

A:ICP-OES目前主要應(yīng)用包括以下幾方面：

1、材料類(lèi)檢測(cè)：主要包括傳統(tǒng)金屬材料以及新型材料的成分檢測(cè)。

2、環(huán)境與安全類(lèi)：主要包括食品、食品容器以及其包裝材料的重金屬檢測(cè)；玩具以及兒童用品及其包裝材料中的有害重金屬檢測(cè)。（銻、砷、鋇、鉻、鎘、鉛、汞等）；電子電器材料有害物質(zhì)檢測(cè)。（Pb、Cd、Hg等）；化妝品、洗滌劑及其包裝材料中的有害成分：砷、汞、鉛等。

3、醫(yī)藥類(lèi)：一般應(yīng)用于藥品以及一些保健品的有害成分以及營(yíng)養(yǎng)成分的檢測(cè)

4、地質(zhì)、礦產(chǎn)、農(nóng)業(yè)行業(yè)的檢測(cè)：主要應(yīng)用于分析地質(zhì)、礦產(chǎn)、土壤等材料中的元素檢測(cè)以及研究。

5、任何高純物質(zhì)的檢測(cè)：主要包括氯堿化工的高純燒堿及其原材料的微量元素分析以及高純藥品中間體。

問(wèn)答三：

Q:ICP-OES有哪些元素是不可以測(cè)試的？

A:ICP-OES除了H、He、C、N、O、F、S、Ne、Cl、Ar、Kr、Xe、Rn、Br、I、At等元素不能測(cè)試外，其他元素都可以測(cè)試。

問(wèn)答四：

Q:ICP-OES與XRF的差異在哪里？

A：ICP-OES屬于定量分析儀器，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性高，其檢出限較低，可以達(dá)到1ppm；而XRF屬于半定量?jī)x器，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性較差，其檢查限較高，一般含量需要0.1%以上的才能檢測(cè)的出。

問(wèn)答五：

Q:什么叫儀器檢出限？什么叫方法檢出限？

A: 儀器檢出限是指在規(guī)定的儀器條件下，當(dāng)儀器處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，儀器本身存在著的噪音引起測(cè)量讀數(shù)的漂移和波動(dòng)。儀器檢出限的水平可對(duì)同類(lèi)儀器之間的信噪比、檢測(cè)靈敏度、信號(hào)與噪音相區(qū)別的界限及分析方法進(jìn)行測(cè)量所能達(dá)到的低限度等方面提供依據(jù)。儀器的檢出限的物理含義為:在一定的置信范圍內(nèi)能與儀器噪音相區(qū)別的小檢測(cè)信號(hào)對(duì)應(yīng)的待測(cè)物質(zhì)的量。通過(guò)配制一定濃度的稀溶液12份進(jìn)行測(cè)量，可用下式計(jì)算:

方法的檢出限是指一個(gè)給定的分析方法在特定條件下能以合理的置信水平檢出被測(cè)物的小濃度，它是表征分析方法的主要的參數(shù)之一。分析方法隨機(jī)誤差的大小不但與儀器噪聲有關(guān)，而且決定了方法全過(guò)程所帶來(lái)的誤差總和，與樣品性質(zhì)、預(yù)處理過(guò)程都有關(guān)系。為了能反映分析方法在整個(gè)分析處理過(guò)程的誤差，可采用已知結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或樣品按照分析步驟進(jìn)行測(cè)量，通過(guò)分析12份已知結(jié)果的實(shí)際樣品來(lái)計(jì)算方法的檢出限，計(jì)算公式如下:

問(wèn)答六：

Q：ICP-OES可以直接測(cè)試化合物的含量嗎？

A：不可以，ICP-OES只能測(cè)試單個(gè)元素的含量，無(wú)法直接測(cè)試化合物的含量。如果需要測(cè)試某個(gè)化合物的含量，必須先測(cè)試化合物中某個(gè)金屬離子的含量，再通過(guò)化合物的分子式將其轉(zhuǎn)換為該化合物的含量。

問(wèn)答七：

Q：ICP-OES測(cè)試對(duì)樣品的形狀有要求嗎？

A：ICP-OES測(cè)試對(duì)樣品的形狀無(wú)特殊要求，只需要該樣品能用各種酸將其從固態(tài)轉(zhuǎn)換為液體即可。

問(wèn)答八：

Q:ICP-OES測(cè)試對(duì)樣品量有什么要求？

A:ICP-OES測(cè)試一般是根據(jù)樣品中的成分含量的多少而決定稱(chēng)樣量的，含量越低，稱(chēng)樣量越大。不同的樣品類(lèi)型和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)有不同的要求。一般情況下保證10g的樣品量的情況下，基本上能滿(mǎn)足測(cè)試要求。

關(guān)鍵詞：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀；美析儀器：ICP-6800