Fluke Ti32 熱成像儀是福祿克（FLUKE）迄今為止生產(chǎn)的具有zui高的性價比，zui為堅固耐用，操作zui為簡單的熱像儀。我們 Fluke 對儀器品質(zhì)的追求永無止境，熱成像產(chǎn)品家族又添新成員 Ti32。
Fluke Ti32詳細技術(shù)指標 |
溫度 | 溫度測量范圍（-10 °C 以下未經(jīng)校準） | -20 ℃ ～ +600 ℃ (-4 ℉ ～ +1112 ℉) | 準確度 | ± 2 ℃ 或者 2 %，取大值 | 發(fā)射率修正 | 是 | 背景溫度補償 | 是 | 傳輸校正 | 是 |
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成像性能 | 圖像捕捉頻率 | 9 Hz 刷新率或 60 Hz 刷新率，取決于型號 | 探測器類型 | 320 x 240 焦平面陣列，非制冷微測輻射熱計 | 熱靈敏度（NETD） | ≤ 0.05 ℃，（30 ℃ 目標溫度時）（50 mK） | 光譜帶 | 7.5 μm ～ 14 μm（長波） | 可見光照相機 | 200萬像素 | zui小焦距 | 46 cm（約 18 in） |
標準紅外鏡頭類型
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視場角： 23 ° x 17 °
空間分辨率（IFOV）： 1.25 mRad
zui小焦距：15 cm（約 6 in）
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長焦紅外鏡頭類型
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視場角： 11.5 ° x 8.7 °
空間分辨率（IFOV）： 0.63 mRad
zui小焦距：45 cm（約 18 in）
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廣角紅外鏡頭類型
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視場角： 46 ° x 34 °
空間分辨率（IFOV）： 2.50 mRad
zui小焦距：7.5 cm（約 3 in）
| 聚焦 | SmartFocus：單指連續(xù)調(diào)焦（手動） |
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