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詳細(xì)摘要:符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻
發(fā)布時(shí)間:2024/11/25所在地:北京北京市
詳細(xì)摘要:一 概述 本儀器既可測(cè)量超高電阻,又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù),使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí)直接顯示流過被測(cè)電阻的電流。電阻量程從1×104
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詳細(xì)摘要:本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。
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詳細(xì)摘要:一、符合標(biāo)準(zhǔn)及適用范圍:*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)
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詳細(xì)摘要:本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國(guó)
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詳細(xì)摘要:本儀器除能測(cè)電阻外,還能直接測(cè)量微弱電流。
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詳細(xì)摘要:符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻
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詳細(xì)摘要:一、符合標(biāo)準(zhǔn)及適用范圍:*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)
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詳細(xì)摘要:符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻
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詳細(xì)摘要:符合標(biāo)準(zhǔn): GB1410《固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法》 ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》 一、概述 本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)I
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詳細(xì)摘要:一 概述 本儀器既可測(cè)量超高電阻,又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù),使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí)直接顯示流過被測(cè)電阻的電流。電阻量程從1×104
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詳細(xì)摘要:本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。量限從1×104Ω ~1×
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詳細(xì)摘要:*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)量電極(夾具)可以測(cè)量不
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詳細(xì)摘要:QS37介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀GB/T1693-20071.概 述 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀GB/T1693-2007?主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)
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詳細(xì)摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是中航時(shí)代公司研制的產(chǎn)品。它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號(hào)源,頻率達(dá)160MHz,信號(hào)源具有信號(hào)失真小,頻率精確、信號(hào)幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn),更保證了測(cè)量精度的精確性,主電容調(diào)節(jié)用步進(jìn)
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詳細(xì)摘要:GB1410《固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法》 ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》
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詳細(xì)摘要:ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀器介紹 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采
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詳細(xì)摘要:本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器除能測(cè)電阻外,還能
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詳細(xì)摘要:?本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù),測(cè)Q精度和速度大大提高。?低至20nH殘余電感,保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。?特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。?Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
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