高低溫低氣壓試驗箱滿足哪些國內(nèi)外試驗標(biāo)準(zhǔn)
使用高低溫低氣壓試驗箱在國內(nèi)外需要參考那些標(biāo)準(zhǔn)及適用范圍介紹如下：
一、國內(nèi)外低氣壓(高度)試驗的主要標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法
GB/T2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM ：高溫/低氣壓綜合試驗方法
GB2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
GB/T2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
GJB 150.2-1986 Jun用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低氣壓(高度)試驗
GJB 150.2A-2009 Jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第二部分 低氣壓(高度)試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法 105 低氣壓試驗(等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F)
GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法1001 低氣壓(高空工作)(等效美軍標(biāo)MIL-STD-883D)
HB 6167.2-1989 民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗方法 溫度和高度試驗
HB 6167.2-2014 民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗方法 第2部分：溫度和高度試驗
MIL-STD-202F-1998，電子及電氣元件試驗方法
MIL-STD-810C/F/G環(huán)境工程相關(guān)事項及實驗室測試
MIL-STD-883D-2005，微電子器件試驗方法和程序
RTCA/DO-160G Environmental Conditions andTest Procedures for Airborne Equipment Section 4.0 Temperature and Altitude(機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗方法)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
8
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務(wù)