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絕緣材料表面比電阻（電阻率）測(cè)試儀用于測(cè)量織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻（表面電阻率），表面比電阻的大小可間接反映試驗(yàn)材料表面靜電，從而反映試驗(yàn)材...

液晶顯示阻水帶表面體積電阻率測(cè)試儀采用液晶顯示,數(shù)字按鍵操作，中文或英文操作界面;具有232和USB通訊端口;可選配PC軟件報(bào)表導(dǎo)出和數(shù)據(jù)管理；

液晶顯示軟管及軟管組件電阻率測(cè)試儀用于液壓軟管和組件的電導(dǎo)率測(cè)試,采用液晶顯示,數(shù)字按鍵操作，中文或英文操作界面;具有232和USB通訊端口;可選配PC軟件報(bào)表...

導(dǎo)電靜電橡膠電阻率測(cè)試儀含有炭黑或電離物質(zhì)的導(dǎo)電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經(jīng)制備的試樣在實(shí)驗(yàn)室對(duì)其體積電阻率的測(cè)定，在橡膠配料中摻入電離物質(zhì)也可以使混...

點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻測(cè)試儀是指在給點(diǎn)時(shí)間內(nèi)，施加材料表面兩個(gè)電極間的直流電壓與流過這兩點(diǎn)間的直流電流之比。液晶顯示器，薄膜按鍵，具有不同的量程檔位，可測(cè)量材料點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻；...

液晶顯示電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀適合電纜研究部門，電纜廠，對(duì)于高壓交聯(lián)電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率的測(cè)試.中文或英文兩種語言

電線電纜四端測(cè)量電阻率測(cè)試儀適用于電線電纜、漆包線、銅線、合金線、鋁線等導(dǎo)體線束線材測(cè)量適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室；對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量分析電阻、電阻率、...

化學(xué)轉(zhuǎn)化膜四端測(cè)量表面接觸電阻測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn)和分析用于涂覆鋁和鋁合金的化學(xué)轉(zhuǎn)化材料；鋁及鋁合金化學(xué)導(dǎo)電氧化膜...

手持式液晶顯示四探針測(cè)試儀 導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測(cè)試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢(shì)下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢(shì)，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對(duì)絕緣材...

200導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀運(yùn)用四端測(cè)量方法測(cè)試材料電阻、電導(dǎo)率和電阻率，并配合高溫箱結(jié)合高溫治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決導(dǎo)體材料的電導(dǎo)...

200導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...

1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

800高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決半...

600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決半...

400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決半...

200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決半...

1600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...