平面光柵

高效衍射光柵

訂購平面光柵時，請使用以下示例格式：

P 1200 W x H x Thk 700-900 nm（TM + TE）/ 2（-1）恒定偏差角10°

1. P指Plano光柵, L指Littrow光柵（可選信息）

2. 1200是光柵線中的刻線密度（刻線頻率）/ mm

3. W是與光柵線平行的空白尺寸（mm）

4. H是垂直于光柵線的空白尺寸（mm）

5. Thk是指以mm為單位的空白厚度

6. 700-900 nm是所需的優(yōu)化范圍。 還可以具有峰值波長的特定波長或范圍

7. 平均（TM + TE）/ 2（-1）是理想的偏振態(tài)和衍射級，光柵應(yīng)優(yōu)化。 TM和TE也可以

8. 恒定偏差角10°是光柵應(yīng)優(yōu)化的配置。 也可以恒定入射角α°。

刻線密度：Spectrogon定期生產(chǎn)600個光柵線/ mm3600個光柵線/ mm。 如需更低或更高的刻線密度，請聯(lián)系銷售團隊。

波長范圍從UV到約2000nm

標(biāo)準(zhǔn)尺寸：25 x 25 x 6 mm，30 x 30 x 6 mm，50 x 50 x 6 mm，50 x 50 x 10 mm，58 x 58 x 10 mm，64 x 64 x 10 mm，90 x 90 x 16mm，110 x 110 x 16mm，100 x 140 x 20mm，120 x 140 x 20mm

W，H，Dia的標(biāo)準(zhǔn)公差：±0.2 mm Thk±0.5 mm。 CA>每個維度的90％。

可根據(jù)要求提供其他規(guī)格，聯(lián)系銷售部門！

平面型光柵是高分辨率光譜學(xué)和低雜散光水平非常重要的應(yīng)用的選擇。 利用這些光柵，光譜線將在波長上更，準(zhǔn)確，并且在吸收線的情況下，比市場上的其他光柵更深。

極低的雜散光

光柵是全息記錄的，有兩個高度準(zhǔn)直，清潔和均勻的光束，可提供直的且等間距的光柵線。 來自這些光柵的衍射光沒有重影光譜線。 隨機散射的光與良好的前表面鋁鏡一樣低。

優(yōu)化效率

光柵線輪廓是對稱的正弦曲線，光柵線深度針對使用的光譜區(qū)域進行了優(yōu)化。 為了獲得高效率，這些光柵優(yōu)選用于僅存在兩個衍射級（-1和0）的配置中，即優(yōu)選高刻線頻率。 在這種情況下，其效率與刻劃閃耀光柵的相當(dāng)或更好。 橫跨光柵表面的光柵深度變化非常小，對于非常高的刻線頻率也是如此。 這意味著您可以充分利用所有光柵表面，以獲得儀器的大通光量。

平面光柵表面，極直且等間距的刻線組合提供了平坦的衍射波前，使得可以獲得大波長分辨率。

準(zhǔn)確的刻線頻率

光柵的刻線頻率在標(biāo)稱值的±0.2光柵線內(nèi)是的/mm。 這意味著儀器中的波長讀數(shù)是可靠的。

應(yīng)用

平面光柵被設(shè)計成滿足尺寸，波長范圍，入射角和衍射角的規(guī)格，但不適用于光學(xué)系統(tǒng)的特定焦距。 因此，只要前面提到的四個參數(shù)相同，就可以將相同的光柵用于不同的光學(xué)裝置。

光譜儀器

光譜儀器通常包括入口狹縫，準(zhǔn)直器，色散元件，聚焦光學(xué)器件，有時還包括出口狹縫。 進入入口狹縫的輻射由準(zhǔn)直器收集，通常是凹面鏡。

色散元件，在這種情況下即光柵，在取決于波長的方向上偏離輻射。 將分散的輻射聚焦到圖像平面上，其中形成光譜（入口狹縫的一系列單色圖像）。

單色儀

在單色儀中有一個出口狹縫，它傳輸一小部分光譜。 入口和出口狹縫是固定的，通過旋轉(zhuǎn)光柵掃描光譜。 因此，光柵在入射光和衍射光之間具有恒定的角度偏差。 大多數(shù)類型的單色儀都是如此，例如Czerny-Turner，Ebert和Littrow類型。

波長刻度

對于恒定偏差安裝和角度偏差，可以寫入光柵方程（假設(shè)-1階衍射）：

sin（α+δ/ 2）=λ/（2dcosδ/ 2）

我們看到單色器傳輸?shù)牟ㄩL與光柵旋轉(zhuǎn)角度的正弦成正比。 單色器通常配備特殊的正弦條機構(gòu)，便于波長讀取。

通光量

基于光柵的光譜儀器的通光量取決于許多因素，例如光源的輻射亮度，光學(xué)系統(tǒng)的F數(shù)，入口狹縫的寬度和高度，儀器的光譜帶寬等。 探測器的靈敏度。

在單色器中，使用高頻全息光柵通常比低頻率的經(jīng)典刻劃光柵更有效，盡管經(jīng)典刻劃光柵的效率可能更高。 具有高頻率的光柵提供更高的波長色散。 因此，對于給定的波長分辨率，可以在單色器中使用更寬的狹縫，這能提高通光量。

光譜儀

在光譜儀中，光柵是固定的，并且探測器同時檢測儀器焦平面中的不同光譜分量。 現(xiàn)代儀器通常使用陣列檢測器。 具有平面光柵的光譜儀通常被制成經(jīng)過改進的Czerny-Turner配置，專門設(shè)計用于提供平坦的焦平面。