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DDCOM 用于超快速晶體取向測量
用于晶體取向測量的臺式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動測定各種晶體取向的工具。
DDCOM 用于超快速晶體取向測量
用于晶體取向測量的臺式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動測定各種晶體取向的工具。
超快速掃描方法
速度是Theta掃描方法的 200 倍
以3D形式自動評估完整晶格取向
在10秒內測定整個晶體取向
高效的質量控制工作流程
用于標準研究和工業(yè)工作流程
晶體取向的方位設置和標記
預編程的立方晶體參數
先進便捷的軟件
精度高，可達（1/100）°
結構緊湊、用戶友好、性價比高
樣品處理方便，操作簡單
采用風冷 X射線光管（無需水冷），能耗和運行成本低
控制切割、研磨和拋光
單晶的完整晶格取向
適用于不同尺寸和重量的各種材料，例如：2-12“的晶圓和重達20kg的鑄錠
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