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廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
玻璃冷熱沖擊試驗(yàn)箱|超低溫沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)*合理，GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001
2、該試驗(yàn)箱主要功能元器件均采用世界配置（含金量高）、技術(shù)原理可靠、噪音與節(jié)能得到控制——其性能可替代國外同類產(chǎn)品。
3、整機(jī)制冷系統(tǒng)采用PID演算控制,不需加配發(fā)熱管消耗額外功率，省電高達(dá)35%
4、設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、*及危害人身健康。
玻璃冷熱沖擊試驗(yàn)箱|超低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足試驗(yàn)方法
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法 Ab
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb
GB2423.22-87溫度變化試驗(yàn)方法
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)
GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)
（每立方米負(fù)載不大于35kg/m3鋼的熱容量，濕熱試驗(yàn)時(shí)無有源濕、熱負(fù)載）
技術(shù)規(guī)格：
此設(shè)備分為：高溫蓄熱區(qū)，低溫蓄冷區(qū)，吊藍(lán)測(cè)試區(qū)
設(shè)備測(cè)試區(qū)尺寸： 600*400*450mm (W* H *D)
設(shè)備外型尺寸：1500*2000*2200mm (W* H *D)
測(cè)試箱溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃（可編程任意設(shè)定）
蓄熱箱溫度范圍：+50℃～+150℃（可編程任意設(shè)定）
蓄冷箱溫度范圍：0℃～-65℃（可編程任意設(shè)定）
蓄熱蓄冷時(shí)間：30分鐘以內(nèi)
控制器控制精度：±0.2℃
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：10秒種內(nèi)完成
高低溫沖擊速率：3～5分鐘內(nèi)完成
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