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成都恒通興業(yè)科技有限責任公司專業(yè)為您推薦德國KD卡爾德意志LEPTOSKOP2042NFE統(tǒng)計型涂層測厚儀

LEPTOSKOP2042涂層測厚儀簡介：

　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。

　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚。

　　儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。

　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

　　彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

LEPTOSKOP2042技術(shù)參數(shù)：

數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或　USB

　　電源：電池、充電電池、USB或外接電源

　　測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)

　　測量速度:　每秒測量2個數(shù)值

　　存儲: zui多 9999 個數(shù)值，140個文件

　　誤差:

　　涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準后)

　　涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um

　　涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um

　　涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數(shù) +/- 100 um

LEPTOSKOP2042涂層測厚儀附件：

　　試塊和膜片

　　探頭定位裝置　(適用于微型探頭)

　　定位輔助裝置 (適用于微型探頭)

　　電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理

　　電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的讀數(shù)或全部文件傳輸?shù)絎indows

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