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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> SGW X-4B-顯微熔點(diǎn)儀 上海儀電
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
zui小讀數(shù)：0.1℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
±2℃（在200～300℃時(shí)）
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)
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