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zeta 三維光學(xué)輪廓儀：*的三維成像和測量，多功能光學(xué)測試模組，多樣化的測試平臺（手動、自動測試臺）
Z*的3D成像及測試系統(tǒng) （為用戶量身打造的表面輪廓測量設(shè)備，是表面量測領(lǐng)域的Z佳選擇）

型號：Zeta-20

產(chǎn)品：光學(xué)輪廓儀/表面輪廓測試系統(tǒng)

品牌：Zeta澤塔

簡介：zui*的3D成像及測試系統(tǒng) （為用戶量身打造的表面輪廓測量設(shè)備，是表面量測領(lǐng)域的*選擇）

特點(diǎn)

◆ 功能齊全，操作簡易，用途廣泛的Zeta-20

ZDotTM技術(shù)擅于對高粗糙度、低反射率的表面進(jìn)行成像分析

  ·具有防反射涂層的太陽能電池片
  ·圖形化/蝕刻的LED基板
  ·生物微機(jī)電、微機(jī)電系統(tǒng)和微流體槽
  ·透明的多表面樣品成像

快速獲取數(shù)據(jù)

·可配置快于10秒掃一幅三維圖像的采集速度
·簡明易學(xué)的軟件操作界面

強(qiáng)大的三維分析功能

·臺階高度、粗糙度、面積、體積、角度及其它表面屬性
·數(shù)據(jù)輸出格式與常見的第三方分析軟件可兼容

◆ 高度的靈活性

測量復(fù)雜的表面特征

從深槽到金剛石鋼線，Zeta-20強(qiáng)大的成像能力可對各種復(fù)雜表面進(jìn)行測量。通常這些表面由于太粗糙、太暗或是坡度太陡而無法用其它設(shè)備測量。

選項(xiàng)配置齊全

  在科研過程中所涉及的樣品表面類型往往難以預(yù)測。因此，Zeta-20使用模塊化設(shè)計(jì)理念，為用戶提供了一系列的硬件和軟件選項(xiàng)來滿足各種不同的測量需求。
  ·薄膜厚度光譜儀
  ·可測量納米級粗糙度的QDIC/Nomarski選項(xiàng)
  ·iX5干涉物鏡
  ·Z軸分辨率高達(dá)2nm的壓電陶瓷載臺
  ·傾斜載臺和真空吸附卡具
  ·自動特征提取和測量軟件
  ·自動表面面積測量、統(tǒng)計(jì)分析 ...以及其它眾多選項(xiàng)！