目錄:東莞市正臺測試儀器有限公司>>冷熱沖擊試驗箱>>液體溫度沖擊試驗箱>> ZT-CTH-27C液態(tài)冷熱沖擊試驗箱
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
液態(tài)冷熱沖擊試驗箱用途：
適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測試工具.
滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GJB150.5-86溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗
IEC68-2-14 試驗N：溫度變化
GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法
GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法
MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗方法
MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法
GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中，通過樣品籃的移動到達(dá)低溫或高溫槽內(nèi) | |
試驗樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 |
使用電源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz | |
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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