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3600S焊縫探傷儀實際操作步驟
鋼板探傷應用
直探頭鋼板探傷中主要以檢測缺陷面積為主，因此要求操作人員對缺陷進行判別和定量。
探測范圍的調整
探測范圍的調整一般根據(jù)板厚來確定。接觸法探傷板厚30mm以下時，應能看到B10(十次底波)，探測范圍調至300mm左右。板厚在30-80mm，應能看到B5（5次底波），探測范圍為400mm左右。板厚大于80mm，可適當減少底波的次數(shù)，但探測范圍仍保證在400mm左右。
靈敏度的調整
在本儀器中以平底孔試塊法為例講解儀器調節(jié)方法：當厚板＞20mm時，使用下圖中平底孔試塊的ø5平底孔*次回波達50%作為探傷靈敏度。
將探頭放在平底孔試塊上，移動探頭找出ø5平底孔的zui大回波，調節(jié)增益，將*次反射回波調節(jié)到滿刻度的50%高度，此時的增益讀數(shù)為探傷靈敏度、然后將探頭放置在待測鋼板上進行掃查。
當板厚≤20可直接在待測鋼板上找出*次底波，并將其調整到50%高度，再按增益鍵，提高10dB作為探傷靈敏度。
缺陷的判別與測定
缺陷的判別
在探傷過程中，觀測屏幕上的波形，根據(jù)缺陷波和底波來判別鋼板中的缺陷情況，確定以下幾種情況作為缺陷。
缺陷*次反射波F1≥50%
*次底波B1＜100%,*次缺陷波F1與*次底波B1之比F1/B1≥50%。
*次底波B1＜50%
缺陷的測定
探傷中發(fā)現(xiàn)缺陷以后，要測定缺陷的位置、大小、并估判缺陷性質。
缺陷定量：鋼板中缺陷常用采用測長法測定其指示長度和面積。JB/T4730-2005規(guī)定：
當F1≥50%或F1 / B1≥50%（B1＜100%=時，使F1達25%或F1 / B1達50%時探頭中心移動距離為缺陷指針長度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界）。
當B1＜50%時，使B1達50%時探頭中心移動距離為缺陷指示長度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界。
當掃查過程中發(fā)現(xiàn)了符合上述情況的時候，拿起探頭，用記號筆在鋼板上畫上記號作為一個邊界點，然后再依次類推，找出其它的邊界點（大約八個點就足以確定缺陷的面積了）。
缺陷位置的測定：根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的探頭位置來確定，并在工件上作標記，然后測量出缺陷距鋼板左邊的zui小距離L1、距鋼板下邊的zui小距離L2，缺陷的zui大指示長度L3并算出缺陷面積。如下圖所示：
將所測數(shù)值依次填入表內：
編號 | L1 （mm） | L2（mm） | L3（mm） | S1（mm） | 對任意1*1面積的百分比（%） | 評級 | 備注 |
1 |
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2 |
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4-5 焊縫探傷實際操作
序號 | S1 | S2 | 長 度 （L） | 缺陷距焊縫中心距離（mm）q | 缺陷距焊縫表面深度H（mm） | S3 | 高于定量線d B值（Amax） | 波高區(qū)域 | 評級 | |
A（+） | B（-） | |||||||||
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2 |
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在焊縫探傷中需要記錄以下數(shù)值
注：S1：缺陷起始點距試板左端其基準線的距離
S2：缺陷起終點距試板左端基準線的距離
S3：缺陷波幅zui高時距試板左端基準線距離
操作步驟：
按照前面所述的斜探頭的校準方法以曲線制作完成后進入焊縫探傷工作，輸入實際探傷中使用的相應標準。下面以常用JB/T4730.3-2005標準為例：
按不同的工件厚度輸入曲線的標準，（本例以15mm＜T＜46mm為例，即判廢：﹢5、定量：－3、評定：－9、表面補償按＋4dB為準。
- 輸入標準后，將探頭放在待測工件上進行掃查如圖所示箭頭表示掃查方向。
- 當發(fā)現(xiàn)缺陷后觀察回波高度，如果回波高度超過定量線，此時仔細移動探頭尋找zui高回波，找到zui高回波后，按住探頭不動，此時觀察屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷深度的讀數(shù)即H，以及波高所在區(qū)域，并用鋼尺量出探頭到鋼板左端邊的距離即S3，（從探頭中心位置測量，或從探頭左邊測量再加上探頭寬度的二分之一），再觀察屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷水平的讀數(shù)，用鋼尺從探頭前端量出缺陷所在位置，并用鋼尺量出缺陷位置與焊縫中心線的距離，如上圖，探頭前端到焊縫中心線的距離為30mm，而儀器測量出的水平位置為27mm,則距焊縫中心距離為3mm，缺陷偏向焊縫中心線B（—）側，則記錄為B3或—3（即在B欄中填寫3），此時缺陷zui大波幅時的數(shù)據(jù)記錄完畢。
- 然后開始測量缺陷長度。調整增益或者使用【功能參數(shù)】→【輔助功能】→【自動增益】鍵將缺陷zui高波調整到滿刻度的80%，此時向左平行移動探頭觀察屏幕上的回波，當回波降低到40%的時候，（即zui高波的一半）此時量出探頭到鋼板左端邊距離，記作S1，此時再向右平行移動探頭，回到zui高波的位置，然后繼續(xù)向右平行移動，直到回波降低到40%的時候，此時量出探頭到鋼板左端邊的距離，記作S2，然后用S2-S1所得到的數(shù)值即為缺陷長度（L）。
- 將上面測量出的數(shù)據(jù)填入表格里相應的欄目中。
- 依照上述方法將缺陷逐一找出并測量鋼板探傷應用
直探頭鋼板探傷中主要以檢測缺陷面積為主，因此要求操作人員對缺陷進行判別和定量。
探測范圍的調整
探測范圍的調整一般根據(jù)板厚來確定。接觸法探傷板厚30mm以下時，應能看到B10(十次底波)，探測范圍調至300mm左右。板厚在30-80mm，應能看到B5（5次底波），探測范圍為400mm左右。板厚大于80mm，可適當減少底波的次數(shù)，但探測范圍仍保證在400mm左右。
靈敏度的調整
在本儀器中以平底孔試塊法為例講解儀器調節(jié)方法：當厚板＞20mm時，使用下圖中平底孔試塊的ø5平底孔*次回波達50%作為探傷靈敏度。
將探頭放在平底孔試塊上，移動探頭找出ø5平底孔的zui大回波，調節(jié)增益，將*次反射回波調節(jié)到滿刻度的50%高度，此時的增益讀數(shù)為探傷靈敏度、然后將探頭放置在待測鋼板上進行掃查。
當板厚≤20可直接在待測鋼板上找出*次底波，并將其調整到50%高度，再按增益鍵，提高10dB作為探傷靈敏度。
缺陷的判別與測定
缺陷的判別
在探傷過程中，觀測屏幕上的波形，根據(jù)缺陷波和底波來判別鋼板中的缺陷情況，確定以下幾種情況作為缺陷。
缺陷*次反射波F1≥50%
*次底波B1＜100%,*次缺陷波F1與*次底波B1之比F1/B1≥50%。
*次底波B1＜50%
缺陷的測定
探傷中發(fā)現(xiàn)缺陷以后，要測定缺陷的位置、大小、并估判缺陷性質。
缺陷定量：鋼板中缺陷常用采用測長法測定其指示長度和面積。JB/T4730-2005規(guī)定：
當F1≥50%或F1 / B1≥50%（B1＜100%=時，使F1達25%或F1 / B1達50%時探頭中心移動距離為缺陷指針長度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界）。
當B1＜50%時，使B1達50%時探頭中心移動距離為缺陷指示長度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界。
當掃查過程中發(fā)現(xiàn)了符合上述情況的時候，拿起探頭，用記號筆在鋼板上畫上記號作為一個邊界點，然后再依次類推，找出其它的邊界點（大約八個點就足以確定缺陷的面積了）。
缺陷位置的測定：根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的探頭位置來確定，并在工件上作標記，然后測量出缺陷距鋼板左邊的zui小距離L1、距鋼板下邊的zui小距離L2，缺陷的zui大指示長度L3并算出缺陷面積。如下圖所示：
將所測數(shù)值依次填入表內：
編號 | L1 （mm） | L2（mm） | L3（mm） | S1（mm） | 對任意1*1面積的百分比（%） | 評級 | 備注 |
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4-5 焊縫探傷實際操作
序號 | S1 | S2 | 長 度 （L） | 缺陷距焊縫中心距離（mm）q | 缺陷距焊縫表面深度H（mm） | S3 | 高于定量線d B值（Amax） | 波高區(qū)域 | 評級 | |
A（+） | B（-） | |||||||||
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注：S1：缺陷起始點距試板左端其基準線的距離
S2：缺陷起終點距試板左端基準線的距離
S3：缺陷波幅zui高時距試板左端基準線距離
操作步驟：
按照前面所述的斜探頭的校準方法以曲線制作完成后進入焊縫探傷工作，輸入實際探傷中使用的相應標準。下面以常用JB/T4730.3-2005標準為例：
按不同的工件厚度輸入曲線的標準，（本例以15mm＜T＜46mm為例，即判廢：﹢5、定量：－3、評定：－9、表面補償按＋4dB為準。
- 輸入標準后，將探頭放在待測工件上進行掃查如圖所示箭頭表示掃查方向。
- 當發(fā)現(xiàn)缺陷后觀察回波高度，如果回波高度超過定量線，此時仔細移動探頭尋找zui高回波，找到zui高回波后，按住探頭不動，此時觀察屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷深度的讀數(shù)即H，以及波高所在區(qū)域，并用鋼尺量出探頭到鋼板左端邊的距離即S3，（從探頭中心位置測量，或從探頭左邊測量再加上探頭寬度的二分之一），再觀察屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷水平的讀數(shù)，用鋼尺從探頭前端量出缺陷所在位置，并用鋼尺量出缺陷位置與焊縫中心線的距離，如上圖，探頭前端到焊縫中心線的距離為30mm，而儀器測量出的水平位置為27mm,則距焊縫中心距離為3mm，缺陷偏向焊縫中心線B（—）側，則記錄為B3或—3（即在B欄中填寫3），此時缺陷zui大波幅時的數(shù)據(jù)記錄完畢。
- 然后開始測量缺陷長度。調整增益或者使用【功能參數(shù)】→【輔助功能】→【自動增益】鍵將缺陷zui高波調整到滿刻度的80%，此時向左平行移動探頭觀察屏幕上的回波，當回波降低到40%的時候，（即zui高波的一半）此時量出探頭到鋼板左端邊距離，記作S1，此時再向右平行移動探頭，回到zui高波的位置，然后繼續(xù)向右平行移動，直到回波降低到40%的時候，此時量出探頭到鋼板左端邊的距離，記作S2，然后用S2-S1所得到的數(shù)值即為缺陷長度（L）。
- 將上面測量出的數(shù)據(jù)填入表格里相應的欄目中。
- 依照上述方法將缺陷逐一找出并測量
鋼板探傷應用
直探頭鋼板探傷中主要以檢測缺陷面積為主，因此要求操作人員對缺陷進行判別和定量。
探測范圍的調整
探測范圍的調整一般根據(jù)板厚來確定。接觸法探傷板厚30mm以下時，應能看到B10(十次底波)，探測范圍調至300mm左右。板厚在30-80mm，應能看到B5（5次底波），探測范圍為400mm左右。板厚大于80mm，可適當減少底波的次數(shù)，但探測范圍仍保證在400mm左右。
靈敏度的調整
在本儀器中以平底孔試塊法為例講解儀器調節(jié)方法：當厚板＞20mm時，使用下圖中平底孔試塊的ø5平底孔*次回波達50%作為探傷靈敏度。
將探頭放在平底孔試塊上，移動探頭找出ø5平底孔的zui大回波，調節(jié)增益，將*次反射回波調節(jié)到滿刻度的50%高度，此時的增益讀數(shù)為探傷靈敏度、然后將探頭放置在待測鋼板上進行掃查。
當板厚≤20可直接在待測鋼板上找出*次底波，并將其調整到50%高度，再按增益鍵，提高10dB作為探傷靈敏度。
缺陷的判別與測定
缺陷的判別
在探傷過程中，觀測屏幕上的波形，根據(jù)缺陷波和底波來判別鋼板中的缺陷情況，確定以下幾種情況作為缺陷。
缺陷*次反射波F1≥50%
*次底波B1＜100%,*次缺陷波F1與*次底波B1之比F1/B1≥50%。
*次底波B1＜50%
缺陷的測定
探傷中發(fā)現(xiàn)缺陷以后，要測定缺陷的位置、大小、并估判缺陷性質。
缺陷定量：鋼板中缺陷常用采用測長法測定其指示長度和面積。JB/T4730-2005規(guī)定：
當F1≥50%或F1 / B1≥50%（B1＜100%=時，使F1達25%或F1 / B1達50%時探頭中心移動距離為缺陷指針長度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界）。
當B1＜50%時，使B1達50%時探頭中心移動距離為缺陷指示長度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界。
當掃查過程中發(fā)現(xiàn)了符合上述情況的時候，拿起探頭，用記號筆在鋼板上畫上記號作為一個邊界點，然后再依次類推，找出其它的邊界點（大約八個點就足以確定缺陷的面積了）。
缺陷位置的測定：根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的探頭位置來確定，并在工件上作標記，然后測量出缺陷距鋼板左邊的zui小距離L1、距鋼板下邊的zui小距離L2，缺陷的zui大指示長度L3并算出缺陷面積。如下圖所示：
將所測數(shù)值依次填入表內：
編號
L1
（mm）
L2（mm）
L3（mm）
S1（mm）
對任意1*1面積的百分比（%）
評級
備注
1
2
4-5 焊縫探傷實際操作
序號
S1
S2
長
度
（L）
缺陷距焊縫中心距離（mm）q
缺陷距焊縫表面深度H（mm）
S3
高于定量線d B值（Amax）
波高區(qū)域
評級
A（+）
B（-）
1
2
在焊縫探傷中需要記錄以下數(shù)值
注：S1：缺陷起始點距試板左端其基準線的距離
S2：缺陷起終點距試板左端基準線的距離
S3：缺陷波幅zui高時距試板左端基準線距離
操作步驟：
按照前面所述的斜探頭的校準方法以曲線制作完成后進入焊縫探傷工作，輸入實際探傷中使用的相應標準。下面以常用JB/T4730.3-2005標準為例：
按不同的工件厚度輸入曲線的標準，（本例以15mm＜T＜46mm為例，即判廢：﹢5、定量：－3、評定：－9、表面補償按＋4dB為準。
- 輸入標準后，將探頭放在待測工件上進行掃查如圖所示箭頭表示掃查方向。
- 當發(fā)現(xiàn)缺陷后觀察回波高度，如果回波高度超過定量線，此時仔細移動探頭尋找zui高回波，找到zui高回波后，按住探頭不動，此時觀察屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷深度的讀數(shù)即H，以及波高所在區(qū)域，并用鋼尺量出探頭到鋼板左端邊的距離即S3，（從探頭中心位置測量，或從探頭左邊測量再加上探頭寬度的二分之一），再觀察屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷水平的讀數(shù)，用鋼尺從探頭前端量出缺陷所在位置，并用鋼尺量出缺陷位置與焊縫中心線的距離，如上圖，探頭前端到焊縫中心線的距離為30mm，而儀器測量出的水平位置為27mm,則距焊縫中心距離為3mm，缺陷偏向焊縫中心線B（—）側，則記錄為B3或—3（即在B欄中填寫3），此時缺陷zui大波幅時的數(shù)據(jù)記錄完畢。
- 然后開始測量缺陷長度。調整增益或者使用【功能參數(shù)】→【輔助功能】→【自動增益】鍵將缺陷zui高波調整到滿刻度的80%，此時向左平行移動探頭觀察屏幕上的回波，當回波降低到40%的時候，（即zui高波的一半）此時量出探頭到鋼板左端邊距離，記作S1，此時再向右平行移動探頭，回到zui高波的位置，然后繼續(xù)向右平行移動，直到回波降低到40%的時候，此時量出探頭到鋼板左端邊的距離，記作S2，然后用S2-S1所得到的數(shù)值即為缺陷長度（L）。
- 將上面測量出的數(shù)據(jù)填入表格里相應的欄目中。
- 依照上述方法將缺陷逐一找出并測量
⑤ 依照上述方法將缺陷逐一找出并測量