金屬鍍層測(cè)厚儀系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程：

系統(tǒng)校準(zhǔn)流程如圖10所示，在校準(zhǔn)菜單中選擇“系統(tǒng)校準(zhǔn)”選項(xiàng)，按“ENTER”鍵后，儀器進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。

本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)后首先顯示"基體"界面，此時(shí)要把探頭垂直的放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量兩次后如果測(cè)量沒(méi)有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入*個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕首先顯示出廠(chǎng)時(shí)提供的*個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和隨機(jī)配置的樣片值大小不符，可以通過(guò)""、""鍵來(lái)進(jìn)行加1或減1操作。按住""或""鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)*個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次無(wú)誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量?jī)纱魏笕詿o(wú)兩聲蜂鳴，說(shuō)明操作有誤，重新測(cè)量一次即可。接下來(lái)四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。

    當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕提示“校準(zhǔn)已完成”，然后儀器進(jìn)入測(cè)量界面。儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。

注意：這五個(gè)樣片可以使用儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間需要有一定的差值。系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)所選用的基體必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。

 影響測(cè)量的若干因素

4.1 基體的影響

1、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

2、表面粗糙度

基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在

不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。

4.2 試片的影響

1、邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

2、曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

3、試片的變形

探頭會(huì)使軟覆蓋層試件產(chǎn)生變形現(xiàn)象，因此在這些試件上測(cè)量會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。

4.3 電磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。應(yīng)避免在強(qiáng)磁場(chǎng)或強(qiáng)電場(chǎng)附近使用本儀器，否則儀器會(huì)顯示未知的數(shù)據(jù)，或者無(wú)法正常工作。

4.4 附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

4.5 探頭的放置

探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中務(wù)必使探頭與試樣表面保持垂直，否則會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差。

4.6 讀數(shù)次數(shù)

通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

4.7 注意事項(xiàng)

1、測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。

2、在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。

3、隨機(jī)配送基體應(yīng)放在干燥處保存，如果發(fā)生生銹現(xiàn)象應(yīng)及時(shí)打磨處理，以免影響測(cè)量。

4、標(biāo)準(zhǔn)樣片如發(fā)生變形、磨損現(xiàn)象建議及時(shí)與廠(chǎng)家，以免影響儀器測(cè)量精度。