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太原MC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀廠家直供

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更新時(shí)間:2017-03-15 10:37:30瀏覽次數(shù):652

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太原MC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀廠家直供涂(鍍)層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂(鍍)層的厚度時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度

詳細(xì)介紹

太原MC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀廠家直供

臨沂*檢測(cè)儀器有限公司專業(yè)銷售MC-2000D涂層測(cè)厚儀,本公司以誠(chéng)信為本,質(zhì)量為先”的企業(yè)文化,為消費(fèi)者提供高質(zhì)量的產(chǎn)品1年保修,。,具體型號(hào)有:具體型號(hào)有:MC-3000/MC-3000A/MC-3000C/MC-3000D/MC-2000A/MC-2000D/MC-2000C/MC-2000A涂層測(cè)厚儀

9mmMC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀供貨商磁感應(yīng)測(cè)量原理

MC-2000D型涂(鍍)層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂(鍍)層的厚度時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上

鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)

指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)磁感應(yīng)測(cè)厚儀_電渦流測(cè)量原理_磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀_電渦流原理的測(cè)厚儀到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。 
磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層

 

太原MC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀廠家直供產(chǎn)品概述

MC-2000D型涂層測(cè)厚儀(鍍層測(cè)厚儀)測(cè)量范圍:10~9000um,它是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕;且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn),其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的*水平。

MC-2000D涂層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍

    本儀器采用磁性測(cè)厚法,可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該涂層測(cè)厚儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2000D涂層測(cè)厚儀工作原理

    MC-2000D型涂(鍍)層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂(鍍)層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂(鍍)層厚度。

MC-2000D涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能

 

1、測(cè)量范圍: 10~9000um

2、測(cè)量誤差: <3%±1um

3、zui小示值:  1um

4、顯示方式:    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能:

   (1).測(cè)量:      單探頭全量程測(cè)厚

   (2).存儲(chǔ)、刪除: 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè),對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀:  讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計(jì): 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量,平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值

   (5).校準(zhǔn): 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (6).電量: 具有欠壓顯示功能

   (7).打?。?可打印測(cè)量值,選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī): 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源:         兩節(jié)1.5v電池

7、功耗:         zui大功耗100mw

8、外形盡寸:     51mm*126mm*27mm

9、重量:      160g(含電池)

10、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃  相對(duì)濕度:不大于90%

11、基體zui小厚度:     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑:   7mm

13、zui小曲率半徑:     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示:       右上角顯示""

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂(鍍)層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度

MC-2000D型涂層測(cè)厚儀配置單

 

 MC-2000D說(shuō)明書下載

    1、MC-2000D型涂鍍層測(cè)厚儀                一臺(tái)

    2、七號(hào)電池                              二節(jié)

    3、探頭                                  一支

    4、標(biāo)準(zhǔn)樣片                              一盒      

    5、小鋁箱                                一個(gè)

    6、說(shuō)明書、合格證                        一套

 選配件:                                                               

    1、打印機(jī)及通訊打印連線                   1套  

    2、微機(jī)通訊軟件                           1盤

    3、內(nèi)防腐探頭

 

注意金屬基體材質(zhì)

不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的,這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同,因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

注意檢測(cè)試件形狀

在實(shí)際生產(chǎn)中,工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異,這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠,實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變,還可能存在不同的曲率,一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此,即使在選擇儀器時(shí)考慮了zui小曲率半徑,測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。

以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮zui小曲率半徑、zui小測(cè)量面積、zui小基體厚度的原因。

 

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