布魯克 D8 Venture X射線單晶衍射儀

2^nd D8 VENTURE/QUEST—面向未來的單晶X射線衍射儀

2^nd D8 VENTURE/QUEST是布魯克公司推出的功能強大的X射線單晶衍射儀。一體化的設計，配備目前世界上先進的光源以及PHOTON II CPAD探測器，幫助您測試   富有挑戰(zhàn)性的晶體，獲得質量高的數據。其主要特點為：

1、同時適合小分子晶體學和蛋白質晶體學的研究需要，應用范圍廣。

2、新一代的Ius 3.0微焦斑光源，性能媲美微焦斑轉靶，零維護，壽命超長。

3、液態(tài)金屬靶MetalJET，室neiX射線光源，強度遠遠高于微焦斑轉靶，讓您擁有個人的“同步輻射”，解決困難的晶體學問題，比如GPCR膜蛋白的結構。

4、采用四代光源XFEL探測器技術的PHOTON II CPAD探測器，超大面積，超快速度，*，單光子檢測的靈敏度。

5、雙靶配置，軟件自動切換光源。滿足不同類型的研究需要。元件自動識別，智能化光路管理。

6、新一代的APEX3/PROTEUM3軟件，功能強大，智能化程度高，輕松操控儀器，獲得好數據。

布魯克 D8 DISCOVER  X射線多晶衍射儀

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER with Davanci Design
布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領域的先進X射線衍射系統(tǒng)。采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及*集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領域的不同應用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面nei掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應力和織構分析。
主要應用
高分辨XRD(HRXRD)
外延多層膜厚度；晶胞參數；晶格錯配；組份；應變及弛豫過程；橫向結構；鑲嵌度
X射線反射率(XRR)
薄膜厚度；組份；粗造度；密度；孔隙度
倒易空間圖譜(RSM)
晶胞參數；晶格錯配；組份；取向；弛豫；橫向結構
面nei掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射線散射(GISAXS)
晶胞參數；晶格錯配；橫向關聯性；取向；物相組成；孔隙度
應力和織構分析
取向分布；取向定量；應變；外延關聯；硬度
物相鑒定(Phase ID)
物相組成；d值確定；擇優(yōu)取向；晶格對稱性；晶粒大小