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Bruker三維光學(xué)表面輪廓儀-ContourGT-K1

布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術(shù)的領(lǐng)dao者，服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結(jié)合了先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件，專li技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和*的操作簡易性，是歷年來來 先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有超大視野內(nèi)亞埃級至毫米級的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界 高的測量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中， 廣泛使用和 直觀的3D表面計(jì)量平臺。

應(yīng)用：

    對LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲行業(yè)等，提供*非接觸式測量方案，樣品從小至微米級別的微機(jī)電器件（MEMS），大到整個(gè)引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等 數(shù)據(jù)

原理：

利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個(gè)條紋間距，光程差就改變一個(gè)波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所*的。

特征：

• 業(yè)界 高的垂直分辨率， 強(qiáng)大的測量性能；

• 0.5~200倍的放大倍率；
• 任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程；
• 高分辨率攝像頭；

◆  測量硬件的*設(shè)計(jì)，增強(qiáng)生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復(fù)性；

• 較高的震動的容忍度和GR&R測量的能力
• 專li的自動校準(zhǔn)能力；

◆  多核處理器下運(yùn)行的Vision64™ 軟件，大大提高三維表面測量和分析速度

• 數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍；
• 分析速度提高十倍；
• 無以倫比的大量數(shù)據(jù)無縫拼接能力；

◆  高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界 強(qiáng)的實(shí)用性，操作簡便和分析功能強(qiáng)大

• 優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程；
• *的可視化操作工具；
• 可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面；

部分選擇項(xiàng)：

可編程控制150mm(6in)自動樣品臺