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布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 液相接觸模式 智能成像模式 SNL 10
布魯克Bruker的銳化氮化硅(SNL)探針是在液體中輕敲模式的高性能成像的行業(yè)標準,也可用與空氣中智能成像模式。
超尖針尖,針尖曲率半徑:2nm~12nm,4懸臂,金涂層。
SNL-10探針擁有銳利的硅針尖,低彈性系數(shù)高靈敏度的氮化硅懸臂,兩者相結合,不論在任何介質中,均可達到更好的分辨率和對樣品準確的力控制。
SNL探針擁有4個懸臂,包含不同程度的力常數(shù)和共振頻率。這個*的設計提供了滿足絕大多數(shù)的樣品的功能參數(shù)。
SNL懸臂布局與其他NP類產(chǎn)品相同,在探針的一側有“A”和“B”懸臂,在探針的另一側有“C”和“D”懸臂。
SNL探針上的所有懸臂都有< 2度的懸臂彎曲,使它們適合于所有的布魯克及非布魯克的AFM。
詳細規(guī)格:
延展閱讀:
關于布魯克:
布魯克公司以先進的生產(chǎn)工藝,專業(yè)的AFM領域背景,得天獨厚的生產(chǎn)裝備,賦予探針制造眾多的優(yōu)勢,確保在廣泛的應用領域中提供完整的AFM解決方案。
布魯克AFM探針制造中心*優(yōu)勢:
*Class100級別的無塵室
*先進的設計、制造工序及制造工具
*探針設計團隊與AFM設備研發(fā)團隊通力合作,配合緊密
*訓練有素的生產(chǎn)團隊,制造出各種型號的探針
*全面的質量管理體系,確保探針性能
在實驗中,用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制,全面的質量測試,和AFM領域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心,我們的探針不僅為您當前的應用提供所需的結果,同時也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù)。
原子力顯微鏡AFM探針:
探針的工作模式:主要分為:掃描(接觸)模式和輕敲模式
探針的結構:懸臂梁+針尖
探針針尖曲率半徑Tip Radius:一般為10nm到幾十nm。
制作工藝:半導體工藝制作
指標:
探針的指標主要分三個部分,分別對應了基片,微懸臂梁,和針尖三個部分。
1. 基片,就是基片的長,寬,高,各種探針的基片尺寸是基本一致的。
2. 懸臂梁,分為矩形梁和三角形懸臂梁,他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數(shù)和共振頻率。而彈性常數(shù)K是探針的很重要的一個參數(shù),一般來說,接觸模式的探針的彈性常數(shù)小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數(shù)從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數(shù)是40N/m。
3. 針尖,針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標主要有,曲率半徑(Tip Radius),探針高度(Tip Height),對應于四面體的指標,前角(Front Angel),后角(Back Angel),側角(Side Angel),還有一個是Tip Set Back,對應的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。
材質:
1. 輕敲探針:一般是單晶硅,型號如RTESP;
2. 接觸模式探針:材質是SiN,而新型號的SNL接觸探針,懸臂梁是SiN,而針尖則Si(曲率半徑2nm左右),這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖;
3. 功能探針:如磁力探針(MESP),導電探針,則是在普通的硅探針的基礎上再鍍上相應的材料。MESP的鍍層是Co/Cr,SCM-PIT的鍍層是Pt。
常用探針型號介紹:
常用探針型號介紹
1. 輕敲模式,RTESPA-300,TESP,F(xiàn)ESP
2. 接觸模式,SNL,NP,
3. 智能掃描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+
4. 磁力顯微鏡,MESP-V2,MESP-RC-V2
5. 靜電力顯微鏡,導電AFM,等電學測量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。
6. 其他特殊功能探針。如金剛石探針,大長徑比探針。
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