布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 輕敲模式—Rtespa 300

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 輕敲模式—Rtespa 300

Rtespa 300，適用于輕敲模式/TappingMode，適用于軟硬適中的樣品。

Tap300：40N / m，300kHz，不對稱針尖，鋁反射涂層。

布魯克生產(chǎn)的MPP系列探針，是高性能和高質(zhì)量成像的AFM探針，適用于各種各樣的樣品。

10根一盒裝硅探針，用于TappingMode和其他非接觸模式，適用于各種AFM。

新的Rtespa 系列探針，相較于傳統(tǒng)的MPP，進(jìn)行了技術(shù)改良及優(yōu)化，擁有更好的成像：

加工中控制的懸臂幾何尺寸、銳利的針尖，減小了AFM小可檢測尺寸，更長的針尖減小擠壓膜阻尼。

新的設(shè)計(jì)改進(jìn)了以下幾方面:

?更嚴(yán)格的尺寸規(guī)格，以改善探針的一致性

?針尖與懸臂的更緊密結(jié)合，使激光更容易定位

?改進(jìn)探針質(zhì)量和外形

?該探針適用于任何AFM，若需要無鋁涂層，請選擇RTESP-300。

詳細(xì)規(guī)格：

延展閱讀：

關(guān)于布魯克：

布魯克公司以先進(jìn)的生產(chǎn)工藝，專業(yè)的AFM領(lǐng)域背景，得天獨(dú)厚的生產(chǎn)裝備，賦予探針制造眾多的優(yōu)勢，確保在廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中提供完整的AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造中心*優(yōu)勢：

*Class100級別的無塵室

*先進(jìn)的設(shè)計(jì)、制造工序及制造工具

*探針設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)與AFM設(shè)備研發(fā)團(tuán)隊(duì)通力合作，配合緊密

*訓(xùn)練有素的生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)，制造出各種型號的探針

*全面的質(zhì)量管理體系，確保探針性能

在實(shí)驗(yàn)中，用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復(fù)性。布魯克的探針具有嚴(yán)格的納米加工控制，全面的質(zhì)量測試，和AFM領(lǐng)域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心，我們的探針不僅為您當(dāng)前的應(yīng)用提供所需的結(jié)果，同時(shí)也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù)。

原子力顯微鏡AFM探針:  

探針的工作模式：主要分為：掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結(jié)構(gòu)：懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius：一般為10nm到幾十nm。

制作工藝：半導(dǎo)體工藝制作

指標(biāo)：

探針的指標(biāo)主要分三個(gè)部分，分別對應(yīng)了基片，微懸臂梁，和針尖三個(gè)部分。

1. 基片，就是基片的長，寬，高，各種探針的基片尺寸是基本一致的。

2. 懸臂梁，分為矩形梁和三角形懸臂梁，他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數(shù)和共振頻率。而彈性常數(shù)K是探針的很重要的一個(gè)參數(shù)，一般來說，接觸模式的探針的彈性常數(shù)小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數(shù)從幾個(gè)N/m到幾十個(gè)N/m。常用的RTESP的彈性常數(shù)是40N/m。

3. 針尖，針尖的的幾何形狀是一個(gè)四面體。指標(biāo)主要有，曲率半徑(Tip Radius)，探針高度（Tip Height），對應(yīng)于四面體的指標(biāo)，前角（Front Angel），后角（Back Angel），側(cè)角（Side Angel），還有一個(gè)是Tip Set Back，對應(yīng)的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。

材質(zhì)：

1. 輕敲探針：一般是單晶硅，型號如RTESP；

2. 接觸模式探針：材質(zhì)是SiN，而新型號的SNL接觸探針，懸臂梁是SiN，而針尖則Si（曲率半徑2nm左右），這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖；

3. 功能探針：如磁力探針（MESP），導(dǎo)電探針，則是在普通的硅探針的基礎(chǔ)上再鍍上相應(yīng)的材料。MESP的鍍層是Co/Cr，SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹：

  常用探針型號介紹

1. 輕敲模式，RTESPA-300，TESP，F(xiàn)ESP

2. 接觸模式，SNL，NP，

3. 智能掃描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡，MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡，導(dǎo)電AFM，等電學(xué)測量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。

6.  其他特殊功能探針。如金剛石探針，大長徑比探針。