顯微鏡圖像法能同時(shí)觀察顆粒的形貌及直觀地對(duì)顆粒的幾何尺寸進(jìn)行測(cè)量，經(jīng)常被用來作為對(duì)其他測(cè)量方法的一種校驗(yàn)或標(biāo)定。該類儀器由顯微鏡、CCD 攝像頭(或數(shù)碼相機(jī))、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)(圖像分析儀)等部分組成。
它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對(duì)這些圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別等處理，計(jì)算出每個(gè)顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布。
顆粒圖像法有靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測(cè)試方法：
靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機(jī)，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關(guān)的計(jì)算機(jī)軟件可進(jìn)行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計(jì)算。
動(dòng)態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。
優(yōu)點(diǎn)：可以直接觀察顆粒的形貌，可以地得到球型度、長(zhǎng)徑比等特殊數(shù)據(jù)，適合分布窄（和小粒徑的比值小于10：1）的樣品。
缺點(diǎn)：器材價(jià)格昂貴，試樣制備繁瑣，代表性差，操作復(fù)雜，速度慢，不宜分析粒度范圍寬的樣品，無法分析小于1微米的樣品，顯微鏡或電鏡不適合用于產(chǎn)品的質(zhì)量控制，但可作為一個(gè)非常有價(jià)值的輔助手段，與激光衍射法或動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合來進(jìn)行顆粒表征。
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