Filmetrics F40-EXR 搭配 SS-Microscope-EXR-1系統(tǒng)
-Filmetrics膜厚測量儀的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，F(xiàn)40是不錯的選擇。

Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀-膜厚儀

       結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)

       

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng)                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng)

      Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。

      當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，F(xiàn)40是您優(yōu)先的選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測量，即可獲得的厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F(xiàn)40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

* 取決于材料

1.使用5X物鏡參考

2.是基于連續(xù)20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2 薄膜樣品連續(xù)測

量100次所得厚度值的標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值

3.是基于連續(xù)20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2薄膜樣品連續(xù)測

量100次所得厚度值的2倍標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 桌面式薄膜厚度測量

• 24小時電話，郵件和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件

附 加 特 性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費(fèi)離線分析軟件

• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

相關(guān)應(yīng)用

半導(dǎo)體制造                              生物醫(yī)學(xué)原件

• 光刻膠                               • 聚合物/聚對二甲苯

• 氧化物/氮化物                         • 生物膜/球囊壁厚度

• 硅或其他半導(dǎo)體膜層                       • 植入藥物涂層

微電子                                  液晶顯示器

• 光刻膠                                • 盒厚

• 硅膜                                 • 聚酰亞胺

•氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡                      • 導(dǎo)電透明膜