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詳細(xì)摘要： 光學(xué)輪廓儀廠家支持3D量測和成像功能，并提供整合隔離工作臺和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)全自動測量。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和...

詳細(xì)摘要： -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀：不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過...

詳細(xì)摘要： 借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供厚度測量，...

詳細(xì)摘要： -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀：F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置（EXR和UVX版本多...

詳細(xì)摘要： 借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供快速的厚...

詳細(xì)摘要： 主動式防震系統(tǒng)主動式防振系統(tǒng)（ AVI）能夠?yàn)榭蒲小⒐こ毯蜕a(chǎn)過程所需要的精密儀器提供一個(gè)穩(wěn)定的測量環(huán)境。。。。

詳細(xì)摘要： 桌上型主動式隔振臺特點(diǎn)：*TS 的隔震性能在0.7-100Hz 范圍提供6自由度3軸的主動隔震。*自動高度調(diào)節(jié)讓儀器擺放隨心所欲.*水平自動調(diào)節(jié)功能即使負(fù)載重心...

詳細(xì)摘要： 桌上型主動式減震臺*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時(shí)沒有共振*LCD-加速度時(shí)間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設(shè)計(jì)-封閉式鋁制機(jī)身與臺面...

詳細(xì)摘要： 主動式減震系統(tǒng)*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時(shí)沒有共振*LCD-加速度時(shí)間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設(shè)計(jì)-封閉式鋁制機(jī)身與臺面，避...

詳細(xì)摘要： UNICORN α500 系列低頻消磁系統(tǒng)（ EMI Canceling System，又稱消磁器），DC 與 AC 雙模式主動消磁器，采用高精度純直流測量/反...

詳細(xì)摘要： 一些靈敏度很高的儀器可能是一個(gè)自然諧振頻率的被動系統(tǒng)，可以用主動隔振系統(tǒng)消除共振。 KURASHIKI 通過在發(fā)展主動防震系統(tǒng)的同時(shí)補(bǔ)充了被動系統(tǒng)，主動防震系統(tǒng)...

詳細(xì)摘要： mini 桌上型主動式隔振臺新設(shè)計(jì)，易使用

詳細(xì)摘要： Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面...

詳細(xì)摘要： Filmetircs 光學(xué)膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

詳細(xì)摘要： HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測...

詳細(xì)摘要： Filmetrics R54四探針電阻率測量儀是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測繪系統(tǒng)，從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜...

詳細(xì)摘要： Filmetrics R50四探針電阻率測量儀系列提供接觸式四點(diǎn)探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。

詳細(xì)摘要： -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產(chǎn)品能以一個(gè)電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)4...

詳細(xì)摘要： Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和Tr...

詳細(xì)摘要： P-17臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需...