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中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺成功交付

中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一，前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來，上海微系統(tǒng)所已獲得獎勵46項、部委省級獎勵340余項。為國民經(jīng)濟發(fā)展、國家安全和社會進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。

本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺JKZC-LRT400，該冷熱臺在實驗中主要用于高阻材料在不同溫度變化下的電學(xué)測試。

   現(xiàn)場交付圖

能提供從-190℃到600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制。

   現(xiàn)場實驗測試變溫電阻測試數(shù)據(jù)（二）

測試樣品為高阻材料，實驗顯示隨溫度升高，材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中，針對客戶需求，對配套軟件進(jìn)行了定制。

包含兩種測試模式：

①RT測試：樣品電阻隨溫度變化；

②數(shù)據(jù)時間譜測試：到達(dá)設(shè)定溫度后，樣品電阻隨時間變化。

一|、冷熱臺主要技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍-196到600°C(-196℃需選擇專用冷卻系統(tǒng))

可達(dá)150°C/min加熱速率

多段溫度控制程序設(shè)定

在線溫度/時間曲線

全程溫度穩(wěn)定性和精度0.1°C

16 mm X、Y方向移動距離

樣品區(qū)域φ22 mm

光孔直徑 2.0mm                

氣密樣品室，可以控制樣品環(huán)境   

超薄上蓋窗口 0.17 mm

可用于透射和反射光

內(nèi)蓋可以增加溫度穩(wěn)定性

樣品側(cè)面導(dǎo)入

物鏡最小工作距離4.5 mm

聚光鏡最小工作距離12.5 mm

計算機控制

冷卻劑直接冷卻加熱體

臺體尺寸- 160 x 80 x 24 mm

二、電阻主要技術(shù)參數(shù)：

• 電流分辨率達(dá)0.1fA(10-16A)

• 測量電阻高達(dá)10PΩ(1016Ω)

• 輸入阻抗>200TΩ

• 支持電壓測量達(dá)20V

• 獨立的電流和電壓測量

• 5.0寸電容式觸摸屏

• 6?位測量分辨率

• 內(nèi)置電壓源：±1000V，分辨率：700μV

• 溫度和濕度測量

• 時域視圖，捕獲瞬態(tài)信號效應(yīng)和選擇測量數(shù)據(jù)

• 支持?jǐn)?shù)據(jù)記錄

• 配置專用屏蔽測試盒

• 接口：USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、RS232、HANDLER、INTERLOCK

  
  

 主要測量應(yīng)用

變溫條件下針對

• 應(yīng)用

• 
  

• 材料特征測試

  半導(dǎo)體、納米材料、聚合物材料、介質(zhì)材料、電化學(xué)材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機材料等

• 電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試

  電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關(guān)、繼電器等

• 電子/非電子系統(tǒng)

  離子束、電子束、傳感系統(tǒng)、粒子測量、嵌入式精密儀器等

• 半導(dǎo)體和其它器件I-V特性測量

• 體電阻/表面電阻率測量