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貨物所在地：北京北京市
更新時(shí)間：2024-07-15 10:16:43
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用于CR\DR低密度分辨力、空間分辨力、射野與光野*性以及均勻性檢測(cè)。
1、CR/DR綜合檢測(cè)模體材料：99%以上純鋁
2、CR/DR綜合檢測(cè)模體厚度：20mm
3、CR/DR綜合檢測(cè)模體孔徑：10mm
4、低對(duì)比度分辨力測(cè)量范圍： 0.35%至16%
5、數(shù)字影像綜合測(cè)試卡視野刻線zui小分度值：2mm
6、數(shù)字影像綜合測(cè)試卡中心及邊界共有5個(gè)均勻性測(cè)試點(diǎn)標(biāo)識(shí)。
7、空間分辨力測(cè)試卡
（1）、等效鉛當(dāng)量0.1mm鉛
（2）、分辨力測(cè)試范圍：（0.6～5.0）LP/mm
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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