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更新時(shí)間：2023-12-21 18:07:45
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BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀
關(guān)鍵詞：熱電，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率，電阻率，n或p型熱電材料π對(duì)熱電轉(zhuǎn)換效
產(chǎn)品介紹：
BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是我國(guó)熱電材料的設(shè)備，是國(guó)家材料計(jì)
劃中zui前沿裝備，是我國(guó)科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計(jì)出來(lái)的熱電材料
測(cè)試儀，其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀，特別是其對(duì)熱電材料π對(duì)
與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試，用于精確測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的
n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。（國(guó)內(nèi)外*）。
對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:
該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式精確測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
一、測(cè)試原理
原理：（1）通過(guò)測(cè)量派對(duì)或器件開(kāi)路電壓和短路電流求得派對(duì)或器件的zui大輸出功率。（2）采用合適尺寸的溫差電熱流量計(jì)測(cè)量通過(guò)熱電派對(duì)或器件的熱流量，其溫差電熱流量計(jì)的工作原理是：當(dāng)對(duì)溫差電制冷片通電時(shí)，其一端降溫一端升溫，降溫端朝向熱電材料的冷端，升溫端連接恒溫的冷卻水（恒溫），利用經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的通過(guò)熱量計(jì)的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計(jì)的熱流量，即為通過(guò)派對(duì)或器件的熱流。（3）將zui大輸出功率與通過(guò)的熱流相比求得zui大轉(zhuǎn)換效率。
一、適用范圍：
1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試，用于精確測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。（國(guó)內(nèi)外*）
2、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
4、擁有自身分析軟件，獨(dú)立分析，過(guò)程自動(dòng)控制，界面友好。
二、技術(shù)特點(diǎn)：
·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題，靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
·熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試，用于精確測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。
四、主要技術(shù)參數(shù)：
| BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 |
測(cè)量溫度 | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ |
同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量 | 1個(gè) | 2個(gè) | 3個(gè) |
控溫精度 | 0.5K（溫度波動(dòng):≤±0.1℃） | ||
熱流量測(cè)量 | 采用溫差電熱流計(jì)測(cè)量流經(jīng)試樣卻沒(méi)有被轉(zhuǎn)換的熱流 | ||
測(cè)量原理 | 塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法 | ||
測(cè)量范圍 | 塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm | ||
分辨率 | 塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm | ||
測(cè)量精度 | 塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％ | ||
樣品尺寸 | 方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng) | ||
熱電偶導(dǎo)距 | ≥6 mm | ||
電 流 | 0 to 160 mA | ||
氣 氛 | 減壓He（具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng)，真空工況下，真空度：≤6×10-2 Pa；） | ||
加熱電極相數(shù)/電壓 | 單相，220V， | ||
熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率 | 0.01?W~10W | ||
夾具接觸熱阻 | ≤0.05 m2K/W，夾具界面石墨或Ag化處理 | ||
單一樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖
圖2 雙樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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