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ZT-4A（X）型電滯回線測(cè)量?jī)x

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關(guān)鍵詞:鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀,鐵電子材料測(cè)試儀,鐵電測(cè)試儀

ZT-4A（X）型電滯回線測(cè)量?jī)x是一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開(kāi)關(guān)特性，可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。

前言：鐵電材料具有良好的鐵電性、壓電性、熱釋電性以及非線性光學(xué)等特性, 是當(dāng)前高新技術(shù)材料中非?；钴S的研究領(lǐng)域之一，其研究熱點(diǎn)正向?qū)嵱没l(fā)展。

一、產(chǎn)品介紹：

ZT-4A（X）型電滯回線測(cè)量?jī)x是一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開(kāi)關(guān)特性，可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。

前言：鐵電材料具有良好的鐵電性、壓電性、熱釋電性以及非線性光學(xué)等特性, 是當(dāng)前高新技術(shù)材料中非?；钴S的研究領(lǐng)域之一，其研究熱點(diǎn)正向?qū)嵱没l(fā)展。

背景：高性能的鐵電材料是一類具有廣泛應(yīng)用前景的功能材料,從目前的研究現(xiàn)狀來(lái)看,對(duì)于具有高性能的鐵電材料的研究和開(kāi)發(fā)應(yīng)用仍然處于發(fā)展階段.研究者們選用不同的鐵電材料進(jìn)行研究,并不斷探索制備工藝,只是到目前為止對(duì)于鐵電材料的一些性能的研究還沒(méi)有達(dá)到令人滿意的地步.比如,用于制備鐵電復(fù)合材料的陶瓷粉體和聚合物的種類還很單一,對(duì)其復(fù)合界面的理論研究也剛剛開(kāi)始,鐵電記憶器件抗疲勞特性的研究還有待發(fā)展。

一、產(chǎn)品介紹：

ZT-4A（X）型電滯回線測(cè)量?jī)x是一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開(kāi)關(guān)特性，可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。

主要技術(shù)指標(biāo)：
1.輸出信號(hào)電壓：：薄膜：0～±10V 陶瓷材料：0～±2000V（可以擴(kuò)展±3000V）
2.輸出信號(hào)頻率：薄膜材料1-1000HZ，陶瓷：0-1Hz
3.電容范圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。
4.電流范圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

5、測(cè)試樣品：0-20mm  5個(gè)

6.電流：1-10倍放大。
7.信號(hào)：1-20倍。

8.數(shù)據(jù)結(jié)口：USB或BNC接口。

9. 處理系統(tǒng)功能： 畫出鐵電薄膜的電滯回線，

定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、

剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);

鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、

鐵電保持性能的測(cè)試，

電阻測(cè)量，

漏電流測(cè)量。

10.可以配合ZJ-3和ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)