島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200：能量色散X射線熒光光譜篩選測(cè)試電子電氣產(chǎn)品中鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、總鉻（Cr）和總溴（Br）等元素的儀器、人員技術(shù)能力、測(cè)試程序、質(zhì)量控制、文檔記錄等要求

島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200追求高速·高靈敏度·高精度

新型能量色散X射線熒光光譜儀

EDX-7200

ü無(wú)損分析，保持固體/粉末/液體原始狀態(tài) 

ü寬廣的元素定量濃度范圍 (Na-U/ppm-%) 

ü可進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣定量

更高靈敏度———檢出下限最大提高6倍————

l顯著提升金屬中微量元素的分析效果 

l銅合金、焊錫、鋁合金中的檢測(cè)下限相比于以往機(jī)型大幅降低

更高速———處理能力最大提高30倍 ————

l無(wú)鉛錫焊分析案例

新功能———磷(P)的篩選分析————

l應(yīng)對(duì)美國(guó)TSCA對(duì)磷的管控要求

l選配真空附件可進(jìn)一步提高P的靈敏度

l同時(shí)新增錫(Sn)篩選分析套件(含標(biāo)樣)

島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200新升級(jí)———降低分析成本————

l閾值算法優(yōu)化，有效減少法規(guī)相關(guān)(如RoHS)分析時(shí)間  

l氦氣置換系統(tǒng)升級(jí)，降低氦氣消耗量 

l新增防潮X射線光管，有效提高高濕度地區(qū)光管使用壽命

           

FP法

根據(jù)理論計(jì)算而得出X射線強(qiáng)度的定量方法。對(duì)于難 以找到標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)應(yīng)的未知樣品，F(xiàn)P法是有效的定量 分析方法。

配置自動(dòng)設(shè)定平衡功能
樣品主要成分為C,H,O等時(shí)，F(xiàn)P法需要進(jìn)行平衡（殘 余成分）設(shè)定。如根據(jù)特征形狀判定需要平衡設(shè)定時(shí)， 軟件將自動(dòng)進(jìn)行。
 

背景FP法

背景FP法指在僅計(jì)算X射線熒光（凈峰）強(qiáng)度的傳統(tǒng)FP法基 礎(chǔ)上，增加計(jì)算散射X射線（背景）強(qiáng)度的方法。（日本 ：「特許」No.5975181）
在提升少量有機(jī)物樣品的定量準(zhǔn)確度、異型鍍層樣品的膜厚 測(cè)定、有機(jī)膜的膜厚測(cè)定方面。

薄膜FP法

標(biāo)配薄膜FP法?？蓹z測(cè)多層膜的膜厚,同時(shí)對(duì)膜的組成進(jìn)行 定量分析。薄膜FP法可對(duì)基板等基材、鍍層結(jié)果、元素信息 進(jìn)行設(shè)定。

匹配功能

匹配功能是指將某種樣品的分析結(jié)果與所保存的譜庫(kù) 比較，按由高到低的順序自動(dòng)排列出接近的物質(zhì)。
譜庫(kù)分為含量數(shù)據(jù)和強(qiáng)度數(shù)據(jù)兩類，用戶均可登錄。 同時(shí)，含量數(shù)據(jù)更可手動(dòng)直接錄入。

為了使X射線熒光分析貼近每一個(gè)實(shí)驗(yàn)室，深入淺出的軟件PCEDX Navi應(yīng)運(yùn)而生。 僅憑直覺即可操作的簡(jiǎn)潔界面，無(wú)論是初學(xué)者還是專家，都可以體驗(yàn)到便捷的操作環(huán)境。

簡(jiǎn)潔的界面
在一個(gè)界面內(nèi)可以同時(shí)顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。

在測(cè)定界面上可以直接切換準(zhǔn)直器
可以一邊觀察樣品圖像,一邊切換準(zhǔn)直器直徑。 同時(shí),選定的直徑用黃色圓圈表示。

自動(dòng)保存樣品圖像
測(cè)定開始時(shí)自動(dòng)讀取樣品圖像，與數(shù)據(jù)文件夾關(guān)聯(lián)保存。