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二手SEM掃描電子顯微鏡
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  • 二手SEM掃描電子顯微鏡

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貨物所在地: 廣東深圳市
更新時間: 2024-06-28 14:37:49
期: 2024年6月28日--2025年6月28日
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產(chǎn)品簡介

二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時,SE圖像可達7nm,5KV電壓時,BSE圖像可達10nm。最新開發(fā)的自動多級電子槍偏壓機構(gòu)能夠在不降低電子束大小的情況下,在一定范圍內(nèi)的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此,此款產(chǎn)品與S-3400N相比,噪音得以大幅減少,成像更加清晰。

詳細介紹

二手SEM掃描電子顯微鏡日立高新高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質(zhì)量更進一步。
日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現(xiàn)了“3kV加速電壓7nm分辨率"的全新電子光學系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能"*1, 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器

特點

低加速電壓觀察時分辨率更高,可更好地觀察樣品最表面的細微形狀和更有效地降低樣品的損壞
全新設計的電子光學系統(tǒng)和信號處理技術(shù)實現(xiàn)了高速掃描和低噪音的觀察
和以前的常規(guī)掃描電子顯微鏡相比,自動功能縮短。
具有在低真空時可以非常好地觀察樣品最表面的細微形狀的“UVD(超高靈敏度可變壓力探測器)
具有實現(xiàn)了實時立體成像的“實時立體觀察功能
(*1):自選
(*2):和日立SEM S-3400N相比
(*3):根據(jù)觀察條件的不同,時間會有變動
(*4):自選


二手SEM掃描電子顯微鏡規(guī)格                                                                          


項目

描述

二次電子分辨率3.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm高真空模式)
7.0nm(加速電壓=3kV,WD=5mm高真空模式)
背散射電子分辨率4.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm低真空模式)
10.0nm(加速電壓=5kV,WD=5mm高真空模式)
放大倍率5 - 300,000倍(底片倍率*5
7 - 800,000倍(顯示器顯示倍率*6
加速電壓0.3 - 30kV
可變壓力范圍6 - 650Pa
最大樣品尺寸直徑 200mm
樣品臺X0 - 100mm
Y0 - 50mm
Z5 - 65mm
R360°
T-20° - 90°
可觀察區(qū)域直徑 130mm (旋轉(zhuǎn)并用)
最大樣品高度80mm(WD=10mm)
馬達臺5軸標配
電子光學系統(tǒng)電子槍預對中的鎢燈絲
物鏡光闌4孔可動光闌
探檢測器埃弗哈特 索恩利 二次電子探測器
高靈敏度半導體背散射電子檢測器
EDX分析 WD10mm(取出角35°)
圖像顯示操作系統(tǒng)Windows® 7*7(如有更改,恕不另行通知)
圖像顯示模式全屏模式(1,280 × 960 像素)
小屏模式(800 × 600 像素)
雙圖像顯示(800 × 600 像素)
四屏幕顯示(640 × 480像素)
信號混合模式
排氣系統(tǒng)操作全自動排氣
渦輪分子泵210升/秒 × 1
機械泵135L/min(162L/min,60Hz)× 1


1.成像功能

SU3500日立掃描電子顯微鏡所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時,SE圖像可達7nm,5KV電壓時,BSE圖像可達10nm。開發(fā)的自動多級電子槍偏壓機構(gòu)能夠在不降低電子束大小的情況下,在一定范圍內(nèi)的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此,此款產(chǎn)品與S-3400N相比,噪音得以大幅減少,成像更加清晰。

  通過SU3500的開發(fā)并優(yōu)化過的圖像處理方法,現(xiàn)在可以很容易地在快速掃描模式下觀察到低噪聲的圖像。高速自動聚焦控制(AFC)和自動亮度及對比度控制(ABCC)的增強,使您可以縮短*2SEM(掃描電子顯微鏡)的觀察循環(huán)時間(TAT)

2.低真空功能操作的優(yōu)異性

  新設計的真空程序使真空范圍可以達到6-650Pa,實時真空反饋允許在用戶特定的壓力設定下保持樣品室的快速的真空穩(wěn)定性。在低真空模式下直接觀察更清晰。

SU3500日立掃描電子顯微鏡具有一個可變壓力模式,允許對處于自然狀態(tài)下的潮濕,油膩和非導電樣品進行觀察。由于正電離子是電子束撞擊殘余氣體分子的結(jié)果,所以不需要進行傳統(tǒng)的樣品前處理,比如干燥和金屬鍍層。

  新開發(fā)的超高靈敏度可變壓力探測器得以進一步優(yōu)化,特別是在可變壓力模式下觀察超薄表面的微觀結(jié)構(gòu)方面。通過同時觀察從標準BSE探測器得到的組成圖像,使得在多種應用下進行的各種各樣的分析都成為可能。振木以銅礦物、樹脂填料、水虱等圖像為例真實的再現(xiàn)了SU3500的這項功能。






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