Fischer測量臺與樣品支架

通過手動測量臺，能夠避免探頭傾斜或?qū)μ筋^施加的力度過大等誤操作。每次測量，樣品上的測量點(diǎn)都能準(zhǔn)確對準(zhǔn)并準(zhǔn)確可靠的接觸上。除此之外，自動測量臺非常適用于多個測量點(diǎn)的全自動測試。

特性：

• 手動測量臺：控制樣品上的探頭的位置方向
• 自動測量臺：通過持續(xù)移動及不變的加載力進(jìn)行接觸式測量，以實現(xiàn)*可重現(xiàn)的結(jié)果，zui為適用于多個測量位置的自動化測試
• 耐用的高質(zhì)量測試臺能夠測量具有挑戰(zhàn)性的被測樣品，如箔、線、環(huán)、芯片或流體等形態(tài)的樣品。

FMP30系列特性：（比FMP10多的特性）
可儲存20,000個測量數(shù)據(jù)，可儲存100個應(yīng)用程式，可儲存4,000個數(shù)據(jù)組；
數(shù)據(jù)組帶日期和時間標(biāo)志，數(shù)據(jù)組和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值，測量數(shù)據(jù)直方圖顯示；
可以輸入過程公差極限并計算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk；
當(dāng)超出公差極*，有聲音和視覺警告信號；
連續(xù)測量模式下，測量數(shù)據(jù)可在上下限范圍內(nèi)模擬顯示；
外部按鍵觸發(fā)測量模式，可用于測量小尺寸的圓管內(nèi)壁；
可在已經(jīng)涂鍍層的底材上校準(zhǔn)（僅適用于磁感應(yīng)方法），
可使用矩陣測量模式進(jìn)行大量測量，
取平均值：僅儲存幾個測量數(shù)據(jù)的平均值，
區(qū)域測量：只顯示讀數(shù)，探頭提起后才儲存并取平均值，
探頭放在工件上可連續(xù)測量，
離奇值控制可自動排除錯誤的測量值，
可修改已儲存的測量值，
應(yīng)用程式連接模式：可共享校準(zhǔn)信息，
通過MP-Name軟件可以為應(yīng)用程式命名，
USB接口可連接打印機(jī)，

Fischer測量臺與樣品支架

當(dāng)待測樣品的尺寸和幾何形狀超出純手動測量的能力范圍時，測量臺將成為受青睞的輔助工具。FISCHER提供用于接觸式測量技術(shù)的手動和自動測量臺。即使對于缺乏經(jīng)驗的用戶，它們也可以提供恒定的測試條件，從而確保得到準(zhǔn)確而高重復(fù)性的測量結(jié)果。在這種情況下，測量難度越大，收益就越大。通過手動測量臺，能夠避免探頭傾斜或?qū)μ筋^施加的力度過大等誤操作。每次測量，樣品上的測量點(diǎn)都能準(zhǔn)確對準(zhǔn)并準(zhǔn)確可靠的接觸上。除此之外，自動測量臺非常適用于多個測量點(diǎn)的全自動測試。

FMP30系列特性：（比FMP10多的特性）
可儲存20,000個測量數(shù)據(jù)，可儲存100個應(yīng)用程式，可儲存4,000個數(shù)據(jù)組；
數(shù)據(jù)組帶日期和時間標(biāo)志，數(shù)據(jù)組和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值，測量數(shù)據(jù)直方圖顯示；
可以輸入過程公差極限并計算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk；
當(dāng)超出公差極*，有聲音和視覺警告信號；
連續(xù)測量模式下，測量數(shù)據(jù)可在上下限范圍內(nèi)模擬顯示；
外部按鍵觸發(fā)測量模式，可用于測量小尺寸的圓管內(nèi)壁；
可在已經(jīng)涂鍍層的底材上校準(zhǔn)（僅適用于磁感應(yīng)方法），
可使用矩陣測量模式進(jìn)行大量測量，
取平均值：僅儲存幾個測量數(shù)據(jù)的平均值，
區(qū)域測量：只顯示讀數(shù)，探頭提起后才儲存并取平均值，
探頭放在工件上可連續(xù)測量，
離奇值控制可自動排除錯誤的測量值，
可修改已儲存的測量值，
應(yīng)用程式連接模式：可共享校準(zhǔn)信息，
通過MP-Name軟件可以為應(yīng)用程式命名，
USB接口可連接打印機(jī)，