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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> ElektroPhysik測(cè)厚儀校準(zhǔn)
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更新時(shí)間:2024/9/25 15:58:51
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Minitest 3100測(cè)厚儀校準(zhǔn)有五種不同的方法:
1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):推薦用于均勻表面上的測(cè)量,如果測(cè)量對(duì)象與ElektroPhysik零板具有相同的材料,尺寸和曲率。
2.一點(diǎn)校準(zhǔn)(不使用校準(zhǔn)箔調(diào)零):如果允許測(cè)量誤差達(dá)±±(讀數(shù)的3%*加上探頭的常數(shù)誤差),建議使用。 (恒定探頭誤差示例:F.1.6:1μm)。
3.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(使用校準(zhǔn)箔校準(zhǔn)和校準(zhǔn)):如果預(yù)期的讀數(shù)將接近校準(zhǔn)值,并且探頭的允許誤差將zui大為±(1%... 3%讀數(shù)*(根據(jù)探頭)加恒定探頭誤差)*參照實(shí)驗(yàn)室條件下提供的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。
4.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(使用一組兩個(gè)校準(zhǔn)箔):a)推薦用于粗糙表面上的測(cè)量。 b)如果要預(yù)期的厚度在兩個(gè)校準(zhǔn)箔的厚度之間,建議在光滑表面進(jìn)行測(cè)量。
5.通過涂層(CTC)進(jìn)行校準(zhǔn):使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行校準(zhǔn)。如果測(cè)試樣品被涂覆并且沒有未涂覆的樣品可用于比較,則推薦使用。該方法適用于以下探針:F05,F(xiàn)1.6,F(xiàn)3和FN1.6(僅含鐵部件),F(xiàn)1.6 / 90,F(xiàn)2 / 90,F(xiàn)10,F(xiàn)20和F50
技術(shù)規(guī)格:
電源:1 x 9 V堿性電池,
電池壽命:10,000次
交流適配器環(huán)境溫度:*探頭適用于高達(dá)350°C的高溫
測(cè)量溫度:0 ... 50°C;
探針:-10℃。 ..70°C,短暫可用120°C(測(cè)量范圍0 ... 2,000μm)
符合DIN 50981,50982,50984,
尺寸/重量:150 mm x 82 mm x 35 mm / 270 g
標(biāo)準(zhǔn):ISO 2178,2360 / BS 5411 / ASTM B499,B244-CE
1)在實(shí)驗(yàn)室條件下與所提供的標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)2)我們的標(biāo)準(zhǔn)和要測(cè)量的對(duì)象的不同銅成分需要準(zhǔn)備的參考標(biāo)準(zhǔn)(例如橫切)
篤摯儀器(上海)有限公司 - 主營(yíng)產(chǎn)品: fischer電導(dǎo)率測(cè)試儀,上海菲希爾辦事處,菲希爾Fisc ...
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