兩用測厚儀DualScope FMP20

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DualScope FMP20涂鍍層測厚儀享譽(yù)的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產(chǎn)品問世了，可以用來無損、高精度測量涂鍍層厚度。從我們的新產(chǎn)品系列中選擇一款含智慧型探頭的涂鍍層測厚儀可以滿足您特定的測量需求。 新一代手提式儀器FMP20配上種類繁多的插拔式探頭提供的測量。除了用戶只能創(chuàng)建一個應(yīng)用程式外，這些儀器操作簡單、堅固耐用，幾乎適合每一種涂鍍層的測厚要求，這些應(yīng)用包括廣泛的噴涂工件和特殊的復(fù)雜涂層。

DualScope FMP20工作原理：

磁感應(yīng)測量原理

采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。

電渦流測量原理

高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

兩用測厚儀DualScope FMP20

便攜式測量儀器具有集成或可互換的探頭，用于直接在工件上測量涂層厚度。

DualScope FMP20

雙功能FMP20 該通用型號為磁感應(yīng)和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導(dǎo)電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP20型號的附加功能包括多達(dá)20,000個讀數(shù)的擴(kuò)展內(nèi)存，多達(dá)100個可校準(zhǔn)應(yīng)用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

•外部按鍵觸發(fā)測量采集
•超過公差限制時的視覺和視覺警告
•選項藍(lán)牙或COM附加可用于默認(rèn)USB接口
測量應(yīng)用記憶體： -
•多達(dá)100個測量應(yīng)用的應(yīng)用存儲器，包括 校準(zhǔn)
•內(nèi)存多達(dá)20,000張讀數(shù)
•將讀數(shù)分配到4,000個塊
•塊的日期和時間戳
•測量應(yīng)用的通用歸一化/校準(zhǔn)
•通過標(biāo)準(zhǔn)測試測量驗證校正校準(zhǔn)

兩用測厚儀DualScope FMP20