詳細(xì)介紹
小型QNix4200測厚儀技術(shù)參數(shù)
QNix4200技術(shù)參數(shù):
磁性基體(Fe模式) 可以
非磁性基體(NFe模式) 不可以
測量范圍 Fe:0-3000um
顯示精度 0.1um
精度 0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
1000-3000um≤±3%讀數(shù)
zui小接觸面 10×10mm/QNix4200
zui小曲率半徑 凸面:3mm;凹面:25mm
zui小基體厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補(bǔ)償范圍 0-60℃
顯示 LCD液晶(帶背光)
探頭 紅寶石固定式
電源 2×1.5V干電池
尺寸 100×60×27mm
重量 110g
QNix®4200(含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5)可測量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度。(Fe)
?非常:
在整個測量范圍內(nèi)測量精度高。
?操作簡單:
無校準(zhǔn)只有一個按鈕。
單手操作
?創(chuàng)新技術(shù):
經(jīng)過驗(yàn)證的霍爾傳感器和渦流技術(shù)。集成測量探針,無電纜或插頭。
?廣泛使用:
用于鋼鐵和有色金屬測量的雙探針。
?保護(hù)測量:
拋光的紅寶石,以保護(hù)探頭和表面被測量。