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詳細介紹
MMS PC2采用不同測量技術的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求
篤摯儀器（上海）有限公司是德國菲希爾fischer授權代理商，主營業(yè)務為無損檢測設備的供應和提供相應的解決方案，同時也是多家檢測儀品牌的正規(guī)代理商。主要產(chǎn)品包括先超聲探傷儀系列、測厚儀系列、渦流系列、內(nèi)窺鏡系列，粗糙度儀，三坐標，電導率儀以及其他品牌的汽車齒輪探傷系統(tǒng)、紅外、電磁超聲等設備系列，并從德國引進了來自德國弗勞恩霍夫研究室的良好的淬火層硬化層深度檢測儀，P3121/P3123及3MA系列等無損檢測儀器，如果您對此感興趣。
模塊化測量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2，搭載 Windows? CE 操作系統(tǒng)，是適用于高精度涂層厚度測量與材料測試的理想解決方案。具備通過 LAN 與 USB 連接實現(xiàn)聯(lián)網(wǎng)的功能，因此可以快速地集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動化制造過程中。設備通過插卡實現(xiàn)模塊化結構，與執(zhí)行相同功能的手持式設備名稱相同。為zui大程度地提高靈活性，可從廣泛的探頭產(chǎn)品組合中選擇適合儀器的探頭，以測量各種形狀樣品的一系列定量屬性，如涂層厚度、導電性以及鐵素體體含量等。Fischerscope MMS PC2的模塊化設計不僅方便了儀器的定制配置，而且還使用了大量的模塊和探頭進行了改裝。根據(jù)任務要求，采用不同的測量方法，如渦流法、磁感應法、磁法和電阻法。測量了金屬基體上涂層的厚度，以及不同導電材料上的金屬涂層的厚度。該儀器也可以用來測量有色金屬的導電性以及雙相或奧氏體鋼中的鐵素體含量
特性：
? 堅固耐用且功能豐富的臺式儀器，可用作多功能測量系統(tǒng)，并可保存和處理測量數(shù)據(jù)
? 由于采用模塊化結構以及可交換式探頭，可實現(xiàn)靈活應用
? 將多種物理測量技術融入單個儀器中，因此具適用性：
? 振幅與相位敏感電渦流、磁感應、β 射線
? 完善的分析與統(tǒng)計功能
? 通過大型內(nèi)置觸摸屏或使用鍵盤和鼠標進行直觀操作
? 只需使用一臺儀器就可以完成涂鍍層厚度測量以及材料測試
? 堅實且很通用的臺式多功能測量系統(tǒng)，具有保存數(shù)據(jù)和處理測量數(shù)據(jù)的功能
? 便于用戶操作的寬大高分辨率 LCD 觸摸屏，基于Windows? CE設計
? 眾多不同的嵌入式測量模塊，可進行大量不同的設備配置以滿足客戶要求。
? 模塊化設計允許在任何時候進行儀器升級。根據(jù)應用可以安裝相似或不同的測量模塊
? 嵌入式模塊 采用了各種物理測試原理，詳情參見產(chǎn)品說明
? 可連接多達八個測量探頭
? 各種不同的探頭，用于被測樣品不同的幾何形狀和厚度范圍
應用：
鋼材上的鍍鋅層和油漆涂層；鋁材上的陽極氧化涂層 (PERMASCOPE?)
納米涂層（防指紋）、太陽能電池涂層（薄膜層、CdTe/玻璃底材）、
插頭觸點上的鍍金層、焊盤上焊料中的鉛、痕量分析、光敏涂層、油層和蠟層 (BETASCOPE?)
電路板表面和通孔中的鍍銅層測量 (SIGMASCOPE?)
電路板制造過程中，線路板表面銅層厚度測量（不受中間層銅層影響） (SR-SCOPE?)
電路板制造過程中銅上的阻焊層厚度 (PERMASCOPE?)
汽車行業(yè)中，活塞表面上的石墨涂層或制動盤上的防腐蝕涂層 (PERMASCOPE?)
汽車行業(yè)中，活塞表面上的鐵磁性金屬鍍層 (NICKELSCOPE?)
奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量 (PERMASCOPE?)
銅、鋁、鈦等非鐵磁性金屬的導電性 (SIGMASCOPE?)
提供的電腦軟件FISCHER DataCenter具有以下功能：傳輸和保存測量值，全面的統(tǒng)計和圖形化評估，簡便生成并打印個人檢測報告
FISCHERSCOPE MMS與FISCHERSCOPE MMS PC2對比
FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀是一臺小巧和多用的的臺式多功能測量系統(tǒng)，有數(shù)據(jù)存儲及數(shù)據(jù)處理能力。模塊化的設計使用戶可以自己配置不同的測試模塊。FISCHERSCOPE? MMS? 2 臺式涂層測厚儀用于通用的涂層厚度測量和材料測試，具有彩色觸摸屏、可進行個性化配置并帶有各種設備接口
FISCHERSCOPE MMS PCB：
FISCHERSCOPE MMS PCB系列可以輕松滿足工廠測量銅層，其它電鍍層和噴漆后測量厚度的要求。僅有幾種方法適于這樣的測量。已經(jīng)集成了電阻法的基本版本的儀器就是專為這樣的應用場合設計的。特別是薄板上的銅層，多層線路板的起始材料和中間包含10 μm (0.4 mils)的溴層的多層板只有使用電阻法才能測量。這是測量結果不受其下的銅層影響的方法
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