FISCHER膜厚測(cè)試儀探頭傳感器代理供應(yīng)
基于在諸多領(lǐng)域中數(shù)十年的經(jīng)驗(yàn)，F(xiàn)ISCHER針對(duì)接觸式測(cè)量技術(shù)打造出了豐富的高品質(zhì)探頭產(chǎn)品，適用于涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試。

       為了獲得準(zhǔn)確的結(jié)果，測(cè)量探頭必須具有適合各種應(yīng)用的某些特殊性能。選擇合適的探頭對(duì)測(cè)量結(jié)果的質(zhì)量有很大影響，因?yàn)樗莻鬏攲?shí)際測(cè)量信號(hào)的途徑。基于在諸多領(lǐng)域中數(shù)十年的經(jīng)驗(yàn)，F(xiàn)ISCHER針對(duì)接觸式測(cè)量技術(shù)打造出了豐富的高品質(zhì)探頭產(chǎn)品，適用于涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試。

FISCHER膜厚測(cè)試儀探頭傳感器代理供應(yīng)

探頭特性：
1）堅(jiān)固：FISCHER探頭具有很強(qiáng)的耐用性和耐磨損，即使是在堅(jiān)硬表面和無數(shù)次使用后，也能在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)保持準(zhǔn)確的測(cè)量。

2）內(nèi)部研發(fā)和制造：所有的探頭都是按照嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)和制造的。

3）工廠校準(zhǔn)：每一個(gè)單獨(dú)的探針都是在幾個(gè)參考點(diǎn)進(jìn)行工廠校準(zhǔn)，以確保很大程度的真實(shí)。

4）導(dǎo)電性補(bǔ)償：FISCHER的導(dǎo)電性補(bǔ)償——在所有渦流探頭中使用——使其能夠適應(yīng)基材的不同導(dǎo)電性，例如不同的鋁合金，在實(shí)際的基礎(chǔ)材料上減少耗時(shí)的現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)，同時(shí)達(dá)到很高的準(zhǔn)確度。

5）曲率補(bǔ)償：對(duì)渦流法的特殊探頭可以自動(dòng)補(bǔ)償曲率對(duì)圓形試樣的影響。

6）減少測(cè)量誤差：彈簧負(fù)載系統(tǒng)保證了探頭總是處于同樣的壓力下。這減少了測(cè)量誤差，提高了重復(fù)性精度。我們的許多探頭都裝有這個(gè)彈簧系統(tǒng)。因此，柔軟的表面也可以測(cè)量。

7）探頭選擇基于以下標(biāo)準(zhǔn)：
   ※ 涂料和基材的材料組合
   ※ 涂層和基材的大致厚度
   ※ 測(cè)量點(diǎn)的面積
   ※ 標(biāo)本的形狀
   ※ 測(cè)量點(diǎn)的表面狀況

FISCHER膜厚測(cè)試儀探頭傳感器代理供應(yīng)主要應(yīng)用：
  ※ 測(cè)量范圍從納米級(jí)到毫米級(jí)不等；
  ※ 磁性底材上的非鐵磁性涂鍍層；
  ※ 導(dǎo)電非鐵磁性底材上的非鐵磁性和非導(dǎo)電性涂鍍層；
  ※ 各種底材上的導(dǎo)電性涂鍍層；
  ※ 非鐵磁性導(dǎo)電底材上的鐵磁性涂鍍層；
  ※ 非鐵磁性材料的電導(dǎo)率測(cè)量、材料特性測(cè)試；
  ※ 如：微觀結(jié)構(gòu)以及由熱損傷或材料疲勞導(dǎo)致的材料性能轉(zhuǎn)變；

  ※ 奧氏體鋼和雙相鋼上的鐵素體和馬氏體含量測(cè)試。

一次測(cè)量的質(zhì)量，主要由幾個(gè)關(guān)鍵因素決定。包括：選擇適當(dāng)?shù)奶筋^和探頭本身的質(zhì)量等。 Helmut FischerGmbH為您提供種類繁多而又品質(zhì)的高精度探頭，所有探頭都是按照很高的品質(zhì)要求自行開發(fā)和生產(chǎn)。鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據(jù)。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測(cè)量點(diǎn)的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時(shí)需要考慮的因素。曲率補(bǔ)償探頭（渦流法）適用于不同曲面的樣品；雙觸點(diǎn)探頭能夠在粗糙的表面上得到準(zhǔn)確的結(jié)果。 FMP1、 FMP20、 FMP30、 FMP40型儀器都可以通過連接不同的探頭來滿足您不同的測(cè)量需求。