fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀
有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。

公司宗旨:公司一貫堅(jiān)持“質(zhì)量,用戶至上,優(yōu)質(zhì)服務(wù),”的宗旨,憑借著高質(zhì)量的產(chǎn)品,良好的信譽(yù),優(yōu)質(zhì)的服務(wù),產(chǎn)品全國.竭誠與國內(nèi)外商家雙贏合作,共同發(fā)展,共創(chuàng)輝煌!

篤摯公司將以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、優(yōu)勢價(jià)格、優(yōu)秀服務(wù)，為您提供性高價(jià)比的解決方案。    篤摯儀器（上海）有限公司是德國菲希爾Fischer測厚儀，德國Elektrophysik（EPK）公司測厚儀，英國易高測厚儀，英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等的代理商，咨詢查看更多規(guī)格和配置的更詳細(xì)介紹。

 

FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

        FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM®儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動(dòng)測量。有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵(lì)條件。

兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對(duì)于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

特征：
    • 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
    • X射線探測器采用比例接收器
    • 準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
    • 基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換
    • 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
    • 固定樣品支撐臺(tái) ，手動(dòng)XY工作臺(tái)
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
    • 設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:
    • 大批量電鍍件測量
    • 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
    • 電鍍行業(yè)槽液分析
    • 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
    • 測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
    • 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
    • 黃金，珠寶和手表行業(yè)

 

通用規(guī)格
設(shè)計(jì)用途	能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）用于確定薄涂層，小結(jié)構(gòu)，痕跡和合金。
元素范圍	氯Cl（17）至鈾U（92）–同時(shí)多達(dá)24種元素
設(shè)計(jì)理念	臺(tái)式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由上往下
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢管
高壓	可調(diào)： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準(zhǔn)直器）	4倍可更改：Ø0.1毫米; Ø0.2毫米 Ø0.3毫米 插槽0.05毫米x 0.05毫米（其他可根據(jù)要求提供）
測量點(diǎn)尺寸	取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小， 實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點(diǎn)大?。杭s Ø0.15mm
X射線探測
X射線接收器	比例接收器
電氣參數(shù)
電源要求	AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
功率	大 120 W （不包括計(jì)算機(jī)）
保護(hù)等級(jí):	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸	寬×深×高[mm]：570×760×650
內(nèi)部測量室尺寸	寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品大高度”部分的說明）
重量	105 kg
環(huán)境要求
使用時(shí)溫度	10°C – 40°C
存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度	0°C – 50°C
空氣相對(duì)濕度	≤ 95 %，無結(jié)露
工作臺(tái)
設(shè)計(jì)	固定工作臺(tái)
Z軸行程	140 mm
可用樣品放置區(qū)	463 x 500 mm
樣品大重量	20kg
樣品大高度	140 mm

 

應(yīng)用實(shí)例:

        XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如*或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時(shí)，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得大的信號(hào)強(qiáng)度。

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB	電鍍液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)
防腐保護(hù)性鍍層: Zn/Fe